涂层测厚仪校正 未来前景几何

1、 涂层测厚仪校正 未来前景几何
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3、 涂层测厚仪校正 未来前景几何多种型号内容

型号:RL048706Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪(铁基)

产品描述：

　　Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪四合一利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)确定铁磁基体上的非铁磁层的厚度，例如：钢，铁。

　　KARL DEUTSCH 建立了Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪新标准：

　　易读的大大拉伯数字显示

　　在高处测量时，只需轻轻一弹按键，屏幕的显示内容就可旋转过来

　　JZ的测量值，即使在难以靠近的地方

　　可自由选择多种语言：德语，英语，法语，西班牙语，意大利语，瑞典语，葡萄牙语，捷克语，罗马尼亚语。其他语言按需求配置。

　　无需特殊的知识就可以轻松掌握Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪的操作方法，因为它有便捷的菜单导航结构

　　虽然是世界上小的电子涂层测厚仪，但它有大的带背景灯的显示屏

　　清楚地用户指南，可以和移动电话相媲美

　　简单的菜单导航只需4个案件(箔按键)

　　只需1节电池(AAA)

　　开机和测量

　　方便的单手操作

　　内置探头用于测量铁磁基体上的非铁磁层(颜料，漆，塑料，橡胶，铬，铜，锌，陶瓷，绝缘体等)的厚度

　　弹簧伸缩探头可以产生持续的压力

　　方便快捷，出厂前已经校准

　　零校准和膜层平均值校准

　　零校准和膜层校准

　　不到1秒钟就可测量出准确的数值

　　新型Pocket-LEPTOSKOP 和手机差不多大小，仅有70克/2.6 oz

　　尺寸：46mm95mm16mm

　　增强了Pocket-LEPTOSKOP的功能

　　极限和补偿

　　调整上限和下限

　　可选择的补偿

　　简单地输入数值

　　键盘可以锁定以防止无意识地操作和更改设置

　　统计功能

　　可以同时显现值，小值，读数的数量和平均值

　　可以储存800个读数

　　可以对规定的数值进行图像显示

　　延伸显示功能

　　仪器对于快速的光学评估读数可以选择类似的指针显示图像

　　测量范围可以选择：自动的，在极限范围内的区域，固定的

　　同样可以显示反转的内容

　　数据传输

　　通过电脑软件STATWIN 2002可以将读数传输到电脑上.

技术参数：

Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪显示
技术	B/W-LCD ,背光灯带有发光板
可视区域	约25mmx16mm
分辨率	128 x 64 pix
测量类型
2018 NFe	测量范围: 0 .. 1200 m (47 mils) 测量方法: 涡流法 符合标准DIN EN ISO 2360
2021 Fe	测量范围: 0 .. 3000 m (120 mils) 测量方法: 磁感应法 符合标准DIN EN ISO 2178
2026 Fe/NFe	对金属的测量类型自动判断 测量方法 铁磁体的测量: 磁感应法 符合标准 (DIN EN ISO 2178) 非铁磁体的测量: 涡流法 符合标准 (DIN EN ISO 2360)
校准模式	通过标准面或曲面的对比实行零点和终点的校准
测量误差/测量精度 在ST52 上2点校准后	涂层 100 m: 1 % +/- 1.5 m 涂层 100 m to 1200 m: 1 to 3 % +/- 1 m 涂层 1200 m: 3 to 5 % +/- 1 m
操作
类型	菜单向导
语言	德语, 英语, 法语, 西班牙语, 意大利语, 葡萄牙语, 瑞典语 (其他语言根据要求增加)
输入／输出
连接接口	2.5mm立体接口，通过适合RS２３２的适配器线连接
发声器	确认测量值（单次测量），键盘声，电池没电情况下的信号声
其他
测量单位	可选择um,mm, mil, inch
电源
电池操作	1节碱性／锰电池（ＡＡＡ，微型）
电池寿命	70小时 无背景灯（开背景灯，会减小电池寿命）
电池容量提示	在低电压之前仪器在屏幕上有信号报警，也有声音报警
操作环境
操作温度	0 C to +45 C
存放温度	-20 C to +60 C 无电池 0 C to +45 C 有电池
空气灰尘含量和湿度	防护等级IP 40 (防止入口处的颗粒= 1 mm)
外型
大小	48x94x17mm （HxWxD）
重量	约70 g, 2.6 oz
材料	ABS, 黑
键盘
设计	4按键，箔按键

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涂层测厚仪
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Pocket-LEPTOSKOP2021涂层测厚仪(铁基)
型号:RL048820ET230FN涂层测厚仪

产品描述：

技术参数：


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涂层测厚仪
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ET230FN涂层测厚仪
型号:RL048805LEPTOSKOP2042FE/NFE统计数据型涂层测厚仪

产品描述：

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有JZ的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

　　仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

　　彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

技术参数：

　　◆　数据传输接口RS232 或　USB

　　◆　电源：电池、充电电池、USB或外接电源

　　◆　测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

　　◆　测量速度:　每秒测量2个数值

　　◆　存储: 多 9999 个数值，140个文件

　　◆　误差:

　　涂层厚度 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)

　　涂层厚度 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um

　　涂层厚度 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um

　　涂层厚度 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

　　LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：

　　试块和膜片

　　探头定位装置　(适用于微型探头)

　　定位辅助装置 (适用于微型探头)

　　电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

　　电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows

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涂层测厚仪
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LEPTOSKOP2042FE/NFE统计数据型涂层测厚仪
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