白光干涉膜厚检测,在车灯、薄膜、半导体、等行业拥有众多的应用实例。
技术特点
光学方法,非接触、无损测量,安全无辐射。
快速膜厚分析,只需几毫秒即可获得测量结果
膜厚测量范围 0.1 - 150 微米 ( 0.004 to 6 mil )
极高的分析准确度,在整个厚度测量范围内偏差小于0.005微米
可同时分析计算两层膜厚
可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析
主要用于
主要的汽车灯以及CD生产商进行有机膜厚测试。
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