DP.GALVANOTEST 库仑镀层测厚仪 测厚仪

应用：

DP.GALVANOTEST  库仑镀层测厚仪 ，应用库仑电量分析原理，可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属、以及绝缘材料。例如铁上镍、铁上锌、铜上银、和环氧树脂上的铜等等。

测量时只需除去几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠，仪器使用又十分简便。测量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需专业知识。

库仑法又是WY能够测量复合镀层、多层镀层的方法。例如测量在铁上依次镀上的铜、镍、铬等。

DP.GALVANOTEST  库仑镀层测厚仪保证所有测量和统计数据的安全可靠，并可由 MINIPRINT 微型打印机打印输出，还可以打印特征电压曲线（见法拉第原理图），作进一步的数据分析。

测量原理：
根据法拉第原理测量。其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解镀。按照镀层/基体的组合，选择电解液注入电解池。将电解池置于被测样板上。电解池和被测样板之间嵌入密封垫圈，其作用一是确定测量面积，例如1mm