精确测量残余奥氏体的含量,对于热处理的控制是非常重要的,X射线衍射法(XRD)是唯一可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法,残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。
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