GLS-AV6332光回波损耗测试仪可同时测量插入损耗和回波损耗。操作简单,一机多用。适用于单模光纤光缆、光器件的插入损耗和回波损耗的测量。校准参数可以存储,用户不需要每天校准,简化了测量过程。测量重复性好,接头易于清洁。广泛应用于光纤通信科研、教学和生产领域
主要特点:
● 测量速度快
● 动态范围大:0~70dB
● 回损、插损同时测量
● 测试接口易拆卸和清洁
●测量速度快
该产品为用户提供了校准参数存储功能,当测试系统未发生改变时,再次开机,仪器直接调用上次关机前保存的校准参数,无须再次进行校准设置,简化了测试步骤。
另外,该产品为提高易用性,软件上做了特别设计,使得仅须简单切换按键,即可同时测量出回损和插损,大大提高了测量速度。
●动态范围大:0~70dB
该产品内部光路采用了超低反射的光器件,电路上采用了同相检测技术,使得仪器回波损耗测量范围很大,可达70dB,可以满足PC、UPC、APC端面的回损测试。
●回损、插损同时测量
该产品面板上有“功率”和“回损”按键,测试过程中,只须操作按键,简单切换,即可同时测量出被测件的回损和插损。
●测试接口易拆卸和清洁
该产品的功率端口支持多种连接方式,可配备FC型接头、万能接头或LC型接头,根据被测件接口(如FC、SC、ST、LC等)类型的不同,用户可自行拆卸更换。功率端口结构设计巧妙,拆卸简单,清洁方便。
该产品的回损端口和光源输入端口一体化设计,无需拆机即可整体拆卸,使内部光纤端头的清洁非常方便。
典型应用:
如下图所示,使用GLS-AV6332光回波损耗测试仪同时测量FC/UPC型跳线的回波损耗和插入损耗。
对AV6332光回波损耗测试仪进行参考反射存储、零点反射存储及插损参考点设置后,接入被测跳线,在回损测量状态下,将被测器件的后端实施光纤终止,此时测量值即为被测器件的回波损耗,释放光纤,将被测器件接入功率端口,切换到功率测量方式,此时测量值即为被测器件的插入损耗。
技术规范:
工作波长 | 1310nm,1550nm |
回波损耗 | 范围 | 0~70dB |
准确度 | ±1.5dB(0~60dB) ±2.0dB(60~65dB) ±2.5dB(65~70dB) |
功率 | 范围 | -70~+3dBm |
准确度 | ±0.25dB(-10dBm) |
工作温度 | 0℃~+40℃ |
电源 | AC220V±10%,50Hz±5%,15W |
外形尺寸 | 长´宽´高=280´280´85(mm) |
重量 | 4kg |
订货信息:
● 主机:GLS-AV6332光回波损耗测试仪
注:一个完整的回损测试系统由AV6332光回波损耗测试仪和单模调制光源
● 标配:FC/APC-FC/UPC跳线、FC/PC-FC/PC跳线、FC连接器、万能接头(功率端口)、BNC电缆、光纤截止棒、三芯电源线、用户手册
● 选件:FC/APC-SC/UPC跳线、FC/APC-ST/UPC跳线、SC连接器、ST连接器、LC接头(功率端口)