ZWF-3B ，ZWF2000 ，YZ-2003B ZWF-3B ZWF2000 YZ-2003频率计

是否提供加工定制	是	品Pai	各种都有
型号	ZWF-3B ，ZWF2000 ，YZ-2003B	测量范围	10Hz — 2400 MHz（Hz）
准确度	±1计数值±基准时间误差x 频率	输入信号幅度	如说明（V）
适用范围	广泛

所标为象征性运费，终售价请报型号咨询，，谢谢数字频率计ZWF-3一、概述：ZWF-3型数字频率计具有：频率测量、脉冲计数及晶体测量等功能，并有三档时间闸门、五档功能供选择和八位LED数码显示，频率从10Hz—2400MHz的智能频率计。全部功能是用一个单片微处理器（CPU）来完成的，从而整机性能稳定，体积小，使用携带方便，是一种高性能、低价位的理想智能数字化仪表。二、技术条件及说明：1、测量（1）输入端口a、30 MHz — 2400 MHz 的高频通道端口b、10 Hz — 30 MHz的低频通道端口c、晶振插孔为晶体测量端口（2）频率测量a、量程： C 0ㄈh 为“0”档 测量频率为30 MHz — 2400MHz C 1ㄈh 为“1”档 测量频率为30 MHz — 800 MHzC 2ㄈh 为“2”档 测量频率为100 KHz — 30 MHz C 3ㄈh 为“3”档 测量频率为10 Hz — 30 MHzb、分辩率： 1Hz, 10Hz， 100Hzc、精度： ±1计数值±基准时间误差x 频率d、闸门时间： 0.1S， 1S， 10S e、输入灵敏度： 15 MV f、输入阻抗： 50 Ω/ 1 MΩ j、Z大输入电压： 30 V（3） 计数测量 在第“4”档位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口输入，分辩率为±1输入计数值。（4）晶体测量在“2”和“3”档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体，测试晶振范围为3 MHz — 24 MHz。（5）电源电压：AC 220 V ± 10% ； 频率50 Hz（6）功耗： 3 W（7）温度： 使用范围 -5℃ — +50℃ 存放运输 -40℃ — +60℃（8）湿度： 10-90 % RH 存放运输 5-90 % RH（9）预热时间：10分钟（10）尺寸：200 x 60 x 160 (mm)（11）重量：约0.5 Kg第二章 操作方法1、频率的测量：当测量的频率为10 Hz — 30 MHz时，“晶体”键弹出，将随机所配的测试线插入下面的插座中，按动“档位”按钮到“2”档或“3”档，按动“闸门”按钮，当测试频率为800 MHz以上时，可选用本机上面的插座，按动“档位”键到“0”档，当频率小于800 MHz时，请选用“1”档，同时选用适当的闸门时间，频率越低，选用的闸门时间越长，反之越短。 由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。2、晶体的测量：将“晶体”键按下，“档位”按钮到“2”档或“3”档。3、计数：在10 Hz — 30 MC插口，接入电脉冲，“档位”选至“4”，即可计数。第三章附件1、说明书一份2、测试电缆线一根，电源线一根多用频率计 ZWF-3B一、概述：ZWF-3B型数字频率计具有：频率测量、脉冲计数及晶体、彩电中周校准等功能，并有三档时间闸门、五档功能供选择和八位LED数码显示，频率从10Hz—2400MHz的智能频率计。全部功能是用一个单片微处理器（CPU）来完成的，从而整机性能稳定，体积小，使用携带方便，是一种高性能、低价位的理想智能数字化仪表。二、技术条件及说明：1、测量：（1）输入端口a、30 MHz — 2400 MHz 的高频通道端口b、10 Hz — 30 MHz的低频通道端口c、晶振插孔为晶体测量端口（2）频率测量a、量程：C 0ㄈh 为“0”档 测量频率为30 MHz — 2400 MHzC 1ㄈh 为“1”档 测量频率为30 MHz — 800 MHzC 2ㄈh 为“2”档 测量频率为100 KHz — 30 MHzC 3ㄈh 为“3”档 测量频率为10 Hz — 30 MHzb、分辩率：1 Hz, 10 Hz， 100 Hzc、精度：±1计数值±基准时间误差x 频率d、闸门时间：0.1S， 1S， 10Se、输入灵敏度：20 MVf、输入阻抗：50 Ω/ 1 MΩj、Z大输入电压：30 V2、计数测量：在第“4”档位（ C4ㄈh）由10 Hz — 30 MHz插口输入，分辩率为±1输入计数值。3、晶体测量:在“2”和“3”档位上从面板晶振输入插孔插入欲测之晶体，测试晶振范围为100KHz — 40 MHz（24MC以上为测量值x3）。4、中周校准：①频率范围： A单片机、四片机的视频检波中周37.8MHzAFT：37MHzB 两片机的视频检波中周 38.7MHzAFT：37.8MHz②频率误差：±0.2MHz5、电源电压：AC 220 V ± 10% ； 频率50 Hz6、功 耗： 3 W7、温 度： 使用范围 -5℃ — +50℃存放运输 -40℃ — +60℃8、湿 度： 10-90 % RH 存放运输 5-90 % RH9、预热时间：10分钟10、尺 寸：200 x 60 x 160 (mm)11、重 量：约0.5 Kg第二章 操作方法1、频率的测量：当测量的频率为10 Hz — 30 MHz时，“晶体、中周”键弹出，将随机所配的测试线插入下面的插座中，按动“档位”按钮到“2”档或“3”档，按动“闸门”按钮，当测试频率为800 MHz以上时，可选用本机上面的插座，按动“档位”键到“0”档，当频率小于800 MHz时，请选用“1”档，同时选用适当的闸门时间，频率越低，选用的闸门时间越长，反之越短。由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。2、晶体的测量：将“晶体、中周”键按下，“档位”按钮到“2”档或“3”档，测量100KHz—3MC，面板插孔为1、2孔，3MC—24MC，面板插孔为3、4孔。3、中周校准：将“晶体、中周”键按下，“档位”按钮到“0”档，将中周插入面板插座的下方。两片机中频中周频率范围大约在38.9MC，单片机和四片机大约在37.8MC，AFT中周单片机大约37MHz，两片机大约37.8，根据实践经验确定）。拆下电视机的图象中频中周或AFT中周，将与中周线圈并联的瓷管电容拆开，选择一只电容（47P－75P）并接在中周的脚上，再将中周相应的脚，插入面板插座下面的插孔中，此时即显示频率值，无感起子缓慢调节磁芯，到相应的数值。AFT检波线圈应显示在37.8MC上。注意有的电视机的中周壳中不带谐振电容，而是按装在线路板上，这种情况应将中周和电容一起拔下，并联好后再调校（校后装入电视机上，有的需要左右微动磁芯少许）。4、计数：在10 Hz — 30 MC插口，接入电脉冲，“档位”选至“4”，即可计数。第三章 附 件1、说明书一份2、测试电缆线一根3、电源线一根多功能频率计 ZWF2000本仪器可测量10Hz－2.4G之振荡频率，具有七位高亮度LED显示，该机性能稳定、测量精度高、体积小、重量轻、价格低廉，是一个既能测频率又能测周期、计数和电容多功能测试仪器。技术指标一、 频率计：1、 测量范围： 10Hz－2.4GHz2、 量程： （1） 档 10Hz－10MC（2） 档 10Hz－50 MC（3） 档 50MC－2400 MC3、 闸门时间：0.02S、0.2S、2S任选4、 灵敏度：≤20mV5、 阻抗：1MΩ、50Ω6、 精度：基准时间误差 x 频率 ±1计数值7、 数显：7位二、周期：1、 测量范围：1－9999999S2、闸门时间：0.01S、0.1S、1S 任选三、计数：1－9999999四、电容：测量范围 10P－5000UF误差±5％五、电源电压：220V ±20％ 50Hz六、计数测量：按下“计数键”, “G”灯亮，再按“清零键”，清零复位，脉冲由低频输入口（10Hz-50Mc）输入，然后开始计数。七、电容测量：按下电容键，将电容用随机所附的测试线接入CX插座（电解电容注意极性，红插座接＋极）根据所测电容选择适当量程10UF或10KVF，该开关处于复位状态时，测10p-10UF，按下时测0.01UF－5000UF,测10P－50P电容时要减去分布电容8P，电容容量较大时，所需测量的时间较长。八、晶体测量：按下10UF电容键和闸门键，频率选用10M或50M档，接口在晶振插口测得晶振值，测量范围2M-24M。九、附件：测试电缆线二根（低频黑色、高频灰色各一根）；晶振、电容测试线一对；电源线一根；说明书一份。注意！高电压、高容量的电容必须先放电后测量，否则会损坏本仪器。在测量过程中OF发光管工作时，说明被测量数值已溢出，请选高一档量程.YZ-2003型多功能智能频率计使用说明书一、 概述尊敬的用户，感谢您选用本仪器。在使用前请您通读并弄懂本仪器的细节，以便正确操作，从而取得的效果。本仪器是一个0.001Hz—2.4G的多功能智能频率计，功能有：频率测量、累计计数、周期及晶体测量，工作状态记忆等功能，可直测数字的射频频率（国内市场尚未出现）、GSM制射频帧周期，区别制式（GSM或CDMA），以及晶体固有频率的测量，全部功能由一个单片计算机来完成，故仪器体积小巧、简洁紧凑，功能多，性能可靠，且价格低廉，实是一部修理行业以及电子生产厂调试必不可少的仪器。二、技术指标（一）频率测量A、量程：1档 30 MHz — 2400 MHz2档 1 MHz — 30 MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B” 按下，x 20）3档 10 Hz — 1 MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B”按下，x 20）8档 0.001 Hz — 100 Hz（输入幅度：2.5V—5V，TTL电平）B、闸门时间：0.1秒、1秒、5秒、10秒共分4档C、输入灵敏度：35 mV — 30 VD、输入阻抗：30 MHz — 2.4 GHz为50 Ω、其余为1 MΩE、时基：12 MHz，稳定度为2 x 10-6/秒F、精度：基准时间误差 x 频率 + 1个计数值G、分辩率：1个计数值（满量程8位数显示时）（二）周期测量6档（下降沿有效），由“常态/放大”开关进行选择。10 Hz—30 MHz输入端输入。输入幅度2.5—5V，TTL电平，Z大不超过5V。Z小周期为30us，Z大周期为4294967295us，可显示周期数值99999999，分辩率为1us。（三） 累计计数：4档位10 Hz—30MHz 输入端输入，其分辩率为1个计数值。（四） 晶体测量：5档位 插口A测30 KHz — 5MHz（晶体键弹出），插口B测2 MHz — 24 MHz晶体，实际可测到50MHz（晶体健按下）。三、 本仪器的特点A、测量范围宽、精度高：可测0.001Hz—2400MHz的正弦波、方波、三角波等信号的频率。B、具有多种测量功能：① 可测数字的射频频率（815—960MHz、1800—1990MHz）以及对讲机、无线机的发射频率。② 可识别的制式（GSM或CDMA）。③ 可测GSM制的射频周期（周期为4615us）。④ 可测石英晶体振荡器的固有频率（30 KHz — 50MHz）。⑤ 可测输入信号的周期。⑥ 可对输入信号累计计数，切断仪器电源后能保存上次的原有状态，及具有记忆功能。四、 仪器的使用A、频率的测量：① 选择合适的信号输入端：本仪器面板左边有三个信号输入端，上为30MHz—2.4GHz信号输入端，中间为10Hz—30MHz信号输入端，下面为0.001Hz—100Hz信号输入端，（2.5V—5V有效）。② 按动“闸门”按键，选好合适的闸门时间，每按动一次“闸门”按键，闸门时间就变化一次，按照0.1秒—1秒—5秒—10秒循环变化。闸门时间越长，分辨率越高，但测试速度也越慢。③ 按动“档位”按键，测频率应选择1、2、3、8各档位中的一个，每档测量频率范围如下：1档 30MHz——2400MHz2档 1MHz—30MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B”按下，x 20）3档 10Hz—1MHz（具有衰减，“A”抬起，x 1；“B”按下，x 20）8档 0.001Hz—100Hz（输入幅度：2.5V—5V，TTL电平）④ 按“确定”键后，即开始测量并显示。由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。B、周期的测量：① 可测量周期的范围：30us—1.19 h，但多只能显示8位数字。② 选用中间一个输入端口，测小信号时（35MV—5V）按下“常态/放大”键，“A、B“抬起。测大信号时，“A、B”键和“常态/放大”键同时按入。③ 如TTL电平从下面的输入端输入，幅度为2.5V—5V有效，“常态/放大”键和“A、B”键均抬起。④ 按动“档位”键，选第6档，按“确定”键后即开始测量并显示，单位为微秒。C、累计计数的方法：① 选用10Hz—30MHz端口作累计计数输入端。② 档位选第4档，按下“确定”键后即开始计数。③ 停止计数需切断信号源。D、石英晶体固有振荡频率的测量：① 选好合适的晶体测量口：本仪器面板提供两个晶体测量口，由面板A、B晶体按键来选择。A口可测30KHz—4MHz晶体，B口可测2MHz—24MHz晶体（实际可测到50MHz以上的晶体，24MHz以上晶体用显示值乘以3即为实际振荡频率）。② 按动“闸门”键，选好合适的闸门时间。③ 按动“档位”键，选第5档，按“确定”键后即开始测量并显示。E、制式的识别：① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。② 选第6档位，按“确定”键，“常态/放大”键抬起。③ 用拨号后如出现4615us或它的整频倍时，则表明该是GSM制式，反之是CDMA制。测量时出现7-8个微秒的误差属正常现象。F、发射频率的测量：① 在30MHz—2.4GHz输入端口插一根长约5公分左右的导线作接收天线。② CDMA制和模拟选用第1档，GSM选用第7档，闸门均选用0.1秒，“常态/放大”键抬起。③ 按“确定”键后，用拨号即可测出并显示发射频率。五、 注意事项①测量高频强辐射信号时，无线方式应远离信号源，有线方式应串接大电阻，如果信号超过30V时，还应按下面板A、B晶体选择按键（20倍衰减器）以免损坏仪器。②本机在无信号输入时，可能是非零显示，这是正常现象，不影响测试精度。③有时仪器可能出现下列现象：数码管显示出非正常数字（缺笔画），数码管会停止刷新数字，这并非仪器出现故障，只要再按一下复位键，仪器便可恢复正常工作。④本机采用新版CPU，程序已经过加密处理。如用户私自解密造成程序损坏，不属保修范围。⑤测量射频和帧周期时，并不是稳定地显示某一数值，这是通信原理所决定的，并非仪器不稳定。⑥8档位的测量单位是Hz，6档位的测量单位是微秒。⑦测对讲机发射频率应根据对讲机的频率范围选择合适的档位，且对讲机应由远近靠近频率计。⑧测BP机，子母机，对讲机的本振频率应在探头上串接一只5 P左右的小电容后去探测测量点。⑨测量射频频率，测周期，测射频帧周期，计数和测晶体，共用了一个指示灯。六、 其它①电源：交流220 V±20 %、50 Hz②环境温度：-5℃- + 40℃(正常工作时需预热10分钟)③相对湿度：10%-90% RH④外形尺寸：202mm （宽）x 75 mm（高）x 230 mm（长）⑤重量：约1Kg⑥附件：测试电缆线一根，电源线一根，说明书一份。YZ-2003B 十位数字频率计使用说明书一、 概述与用途本仪器用于通讯设备、广播设备、电子仪表及家电产品的测量调试，是一款功能多、精度高的数字化仪器。本仪器测频可达2400兆赫，四功能（测频率、测周期、计数、晶体测量）、低功耗、体积小、重量轻，高稳定，全部功能是由一片大规模集成电路来完成的。整个仪器的功能和使用方法均在这本说明书里，在使用该仪器前，请务必通读并弄懂这些资料的细节，以便正确的操作，取得的效果。二、主要技术指标（1） 测量频率范围：10Hz—2.4GHz（方波、三角波、正弦波均可）。（2） 10位超高亮数码显示，15个发光二极管指示工作状态，100Hz动态扫描。（3） 6个测量档：1、2、3档为测频档、4档为计数档、5档为测晶振档、6档为测周期档。4个闸门档：0.1秒、1秒、5秒、10秒。（4） 求差计算功能。也叫识别比较功能。（5） 周期测量、计数（加或减）。① TTL电平输入② 测量周期的分辨率为0.01us。③ 可分别测量波顶、波底和整个波周期，可测量连续波周期或捕捉单个波周期。（6）晶体测量：2MHz — 24MHz（7）系统时钟晶振配有恒温控制装置。（8）工作状态记忆功能：复位后或重新开机都能自动进入上一次工作状态。三、测量方式（一） 频率测量：量 程： 1档位 30MHz—2400MHz 比例计数通道A输入（上面插座）。2档位1MHz—30MHz 直接计数通道B输入（中间插座）。3档位 10Hz—1MHz 直接计数通道B输入（中间插座）。分辨率： 1档位 10Hz、20Hz、100Hz、1000Hz任选。2档位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz任选。3档位 0.1Hz、0.2Hz、1Hz、10Hz任选。闸门时间： 0.1S、1S、5S、10S任选。（二）累计测量：4档位：通道C输入（下面的插座），间隔时间长度不限。加或减1输入计数。（三）晶体测量：5档位：2MHz — 24MHz 前面板晶体插口输入。（四）周期测量：6档位：TTL电平周期测量，通道C输入（下面插座）。分辩率为0.01us。可分别测量波顶、波底和整个波周期，可测量单个或连续波周期。四、输入特性1、通道A 输入灵敏度：30MHz—2400MHz 30mV阻抗：约50ΩZ大安全电压：3V2、通道B 输入灵敏度：10Hz—1MHz 30mV1MHz—30MHz 30mVZ大安全电压：10V3、通道C TTL电平（施密特）。五、面板结构本仪器共有8个按键，分别为：①闸门时间选择键“闸门” ②功能选择键“档位” ③确定键“确定” ④求差/非求差选择键“求差/非求差” ⑤数值输入键“置数” ⑥数值位选择键“选位” ⑦数值输入开始//完毕键“开始/完毕” ⑧波顶/波底/全波选择键“顶/底/全”，四个输入口：A高频输入口（上面一个插口），供测试30MHz — 2.4GHz；B中、低频输入口（中间一个插口），供测试中频1MHz — 30MHz，低频10Hz — 1MHz；C周期计数输入口（下面一个插口），供测试周期计数用；D晶体输入口，供测试2MHz — 24MHz晶体用。15个指示灯，分别指示对应的工作状态。六、使用方法（一） 频率测量：将仪器上的电源插头插入220V交流电源插座上，打开后面板上的电源开关，此时仪器显示H2000-A后，自动进入上次操作状态（记忆功能），将随机电缆插入面板上的相应插座，选择适当的档位和闸门时间即可测量信号频率。闸门时间短，则测频速度快，但分辨率低；闸门时间长，则测频速度慢，但分辩率高。① 30MHz — 2.4GHz频率的测量：将随机电缆插入A（上面一个插口），按动“档位”键到“1”档位，按动“闸门”键到任意值，再按“确定”键确定，此时“兆赫”和“高频”灯亮，即可得到所测频率的数值。② 1MHz — 30MHz频率的测量：将随机电缆插入B（中间一个插口），按动“档位”键到“2”档位，按动“闸门”键到任意值，再按“确定”键确定，此时“兆赫”和“中频”灯亮，即可得到所测频率的数值。④10Hz — 1MHz频率的测量：将随机电缆插入B（中间一个插口），按动“档位”键到“3”档位，按动“闸门”键到任意值，再按“确定”键确定，此时“千赫”和“低频”灯亮，即可得到所测频率的数值。由于低频率时是高阻抗，而测试的频率为低阻抗（如测试50Hz交流电源），此时会产生阻抗严重失配，可在低频的探头上串接一个1MΩ的电阻。（二） 计数测量：将随机电缆插入C（下面一个插口），按动“档位”键到“4”档位，按动“闸门”键到0.1秒，再按“确定”键确定，此时 “计数”灯亮，即可计数测量。（三） TTL电平周期测量：周期测量的应用领域极其广泛，如测速、测距、测转速以及电子产品中的参数测量，都要用到。为得到精确的测量值，本仪器采取TTL电平直接输入方式。具体操作将随机电缆插入C（下面一个插口），按动“档位”键到“6”档位，按动“闸门”键到任意值，按“确定”键确定，此时“微秒”“周期”“全波”灯亮，再根据您的需要，按动“顶/底/全”按键，对应的测量部分“波顶”“波底”“全波”指示灯亮，即可进行周期的测量。（四） 晶体测量：将2MHz—24MHz的晶体插入晶体输入口，按动“档位”键到“5”档位，按动“闸门”键到任意值（闸门时间越长，测量的位数越多，数值也就越精确），此时“晶体”“千赫”灯亮，按“确定”键确定，即可得到所测晶体的数值。（五） 求差功能的使用：此功能宜用在对某一非整数频率进行调校的场合，对生产工作量较大的企业更为合适，它可有效的提高调机工的工作效率和降低劳动强度。操作如下：①频率求差：接通电源，根据所测频率按下“档位”键，按下“确定”键确定，按下“求差/非求差”键，此时显示屏右边的“求差”、“小于”灯亮，再按“开始/完毕”键，此时十个数码管均亮，个位数码管不停闪动，根据目标数值的个位，按动“置数”键，以改变目标输入值的个位数，按动“选位”键，此时十位数码管不停闪动，再按“置数”键，以改便十位数到目标输入值的十位数，再按“选位”键进入百位，以此类推，直到目标输入值全部输入完毕为止，后按“开始/完毕”键，此时显示值即为求差值。根据您的求差值，将测试电缆插入相应的插座，当测试电路的频率高于您的求差值，此时显示的数值为正数，“大于”灯亮；当测试电路的频率低于您的求差值，此时显示的数值为负数，“小于”灯亮；当测试电路的频率等于您的求差值，此时显示的数值为零。闸门时间的改变可使小数点的位置移动。②晶体求差：按通电源，“档位”键选到5档，此时“晶体”、“千赫”灯亮，按“确定”键确定，按“开始/完毕”键，此时10个数码管全部点亮，个位数码管闪动，按频率的求差方法，进行“选位”和“置数”，即可得到晶体的预置值，按“开始/完毕”键，再按“求差/非求差”键，到“求差”、“小于”灯亮，即可进行晶体的求差测量。③计数求差：接通电源，“档位”键选到“4”档，此时“计数”指示灯亮，“确定”键确定，再按“开始/完毕”键，此时10个数码管全亮，按“置数”键，选个位到预定值，按“选位”键到十位，按“置数”键，选十位到预定值，以此类推，到预定的计数值全部输入完毕，按“开始/完毕”键，再按“求差”键，即可进行求差计数测量。“求差”、“小于”灯亮，此时是减法计数，（闸门置于相应的时间）。七、故障与排除有时仪器可能出现下列现象：1、 数码管显示非正常数字（缺笔画），数码管会停止刷新数字这并非是仪器损坏，您只要断一下电，仪器便可恢复正常工作。2、 本机在无信号输入时可能是非零显示，这是正常现象，不影响正常测量。3、 本机如发生不可恢复的死机时，可按如下操作：A打开机壳将电路93C46左上角的两根插针焊开，打开电源开关，机器进入默认档位工作。B将焊开处重新焊上，按下“闸门”键或“档位”键，再按下“确定”键，本仪器即恢复正常工作。焊开处不连接时，机器仍可正常工作，只是无记忆功能。八、注意事项1、 测量高压，强辐射信号频率时，有线方式应串接大阻值电阻，无线方式，应将频率计远离辐射信号源，或使信号衰减后再进行测试，以免损坏仪器。2、 在测量100 MHz以上的信号时，测量用电缆应尽量的短。3、 本仪器的测周期和计数输入端，为一施密特反向器，输入信号应以方波为好，当测量其它形式信号时应做适当变换。4、 输入插座旁所标注的高频、中频、低频不是无线电术语中的概念，在这里高频为30兆至2400兆，中频为1兆至30兆，低频为10赫至1兆。5、 请勿将仪器置于高温、潮湿、多尘之环境，并应避免剧烈震动。九、其它1、电源： AC 220V ±10% 频率50 Hz2、使用温度： -5℃ — +40℃3、存放和运输：-40℃ — 60℃4、湿 度：工作：10 — 90% RH 存放：5 — 95% RH5、尺 寸： 宽（205 mm） 高（75 mm） 长（220 mm） 重（1 kg）6、附 件：说明书一份，测试电缆线一根。