HP4263B 二手 HP4263B LCR测试仪

是否提供加工定制	否	类型	高速LCR测量仪
品Pai	HP	型号	HP4263B

HP4263B LCR测试仪是HP公司生产的价廉物美的低档LCR测试仪，供生产线上的元件评估和实验室中的基本阻抗测试使用。HP4263B具有能在正确状态下对测试进行模拟的5个测试频率，即100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz和100 kHz。在这5个频率之外还可增添供选用的20kHz测试频率(选件002)。高速测量HP4263B依靠在任何测试频率上都有25ms的测量速度来提高生产率。这种能力提高了电解电容器和变压器测试的效率。HP4263B能检查测试端子与被测件(DUT)之间的接触状况。这种功能保证在生产中用自动处理器进行合格/不合格测试的可靠性。有故障的被测件一旦从处理器中取去，该仪器便能立即恢复正常工作，因此，处理器始终能以Z高速度工作。电解电容器测量HP4263B的精度和宽的测量范围是对电解电容器进行精密测量的很好保证。充电后的电容器可能经前端放电，从而使仪器损坏。HP4263B的前端设计考虑了保护作用，能保持测试正常进行。变压器参数测量由于HP4263B能进行匝数比(N)，互感(M)和直流电阻(DCR)测量，故数据计算和改变测试装置不再是费时的工作(选件001)。灵活的信号电平调整和电压、电流监视功能使HP4263B特别适用于测量与电平有关的被测件，如磁芯电感器。技术指标(全面的技术指标请参阅产品介绍)测量功能测量参数：｜Z｜，｜Y｜，θ，R，X，G，B，L，C，Q，D，ESR选件001：增加DCR(直流电阻)、N(匝数比)和M(互感)测量测量电路形式：串联和并联数学功能：偏差和百分偏差测试电缆长度：0m，1m，2m，4m（频率＝100/120/1kHz)； 0m，1m，2m(频率＝10kHz/20kHz)；0m，1m(频率＝100kHz)测试信号数据测试频率：100Hz，120Hz，1kHz，10kHz和100kHz选件002：增加20kHz测试频率频率精度：±0.01%(频率＝100Hz，1kHz，10kHz，20kHz，100kHz)， ±1%(频率＝120Hz)输出阻抗：100Ω±10%，25Ω±10%(≤1Ω量程)交流测试信号电平：20mV~1Vrms，以5mVrms分档精度：±(10%+10mV)内部直流偏置电平：1.5和2V；精度：±(5%+2mV)外部直流偏置：0~+2.5V测量范围参数 测量范围｜Z｜，R，X 1mΩ~100MΩ｜Y｜，G，B 10ns~1000sC 1pF~1FL 10nH~100kHD 0.0001~9.9999Q 0.1~9999.9θ -180°~＋180°DCR 1mΩ~100MΩN 0.9~200(待定)L，M 1μH~100H(待定)△% -999.99%-+999.99%测量精度：±0.1%(基本精度)(适且于｜Z｜，R，X ,｜Y｜，G，B ，C，L)测量时间模式 时间(典型值)短 25ms中等 65ms长 500ms测试信号电平监视器：电压和电流前端保护：当充电电容器连接到输入端时内部电路便起保护作用。Z大电容器电压为：在Vmax≤250V时，Vmax＝(8/C)(典型值)；在Vmax≤1000V时，Vmax＝(2/C)(典型值)，C的单位为F。显示数字：3，4或5位(可选择)修正功能：开路/短路误差为0：消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差负载：利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度比较功能：对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低 (HIGH/IN/LOW)比较结果接触检查功能：可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附 加时间为5ms。其它功能存储/调用：可以存储和从内部非易失存储器调用10个仪器设置连续存储功能：若仪器被关断或出现电源故障，仪器设置(直流偏 置接通/切断除外)将自动被存储起来(在23°± 5℃下≤72小时)GPIB接口：所有控制设置，被测值和比较器信息处理器接口：所有输出信号均为负逻辑，光隔离的开路集电极。输出信号包括HIGH/IN/LOW，不接触，序号，测量 结束和报警。输入信号包括键锁定和外触发一般技术指标电源要求：198~264V，47~66Hz，45VAmax工作温度：0~45℃尺寸：320mm(宽)×100mm(高)×300mm(长)重量：4.5kg订货信息HP 4263B LCR测试仪Opt 001 增加N/M/DCR测量功能Opt 002 增加20kHz测试频率HP4263B LCR测试仪实物图：