X荧光镀层测厚仪CMI900 /X-Strata 920
利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供:
无损分析:无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性
操作简单,只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和精确性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/920主机的全面自动化控制,
技术参数:
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都领先于测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层
(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定Z多5层、15 种元素。
B :精确度领先于世界C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D :统计功能提供数据平均值、误差分析、值、Z小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;
E :可测量任一测量点,Z小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择:
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
一:手动样品台
1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二:自动样品台
1 程控样品台:XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。
CMI920系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样,CMI920可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:
1 全程控样品台:XYZ 三轴程序控制样品台,可接纳的样品高度为150mm,XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品高度为270mm。
3 全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。