特点:1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合金测量面。3.非旋转测微螺杆型。4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。
122-161日本三丰薄片型千分尺
薄片型千分尺
422,122 系列 — 非旋转测微螺杆型
BLM-M/QM·BLM
122-161产品特点
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型,可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.非旋转测微螺杆型。
4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。
122-161参数规格
平行度 :
测量范围小于 75mm 型为 3μm
测量范围大于 75mm 型为 ( 3+R/100 ) μm,
R 为测量范围 ( mm ) ,小数圆整
类型与尺寸
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/3/635757615205300000.jpg)
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/3/635757615354210000.jpg)
422 系列电池
SR44 ( 1 个 ) , 938882, 用于初始操作检查 ( 标准附件 )
选件
连接电缆
1m: 05CZA662
2m: 05CZA663
USB Input Tool
USB-ITN-B ( 2m ) : 06ADV380B
连接电缆
1m: 937387
2m: 965013
USB Input Tool
USB-ITN-E ( 2m ) : 06ADV380E
Quickmike
Quickmike的快速进给速度可达 10mm/rev,可快速测量不同形状的工件。
垂直方向上的测砧和测微螺杆之间的偏差
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/3/635757615550010000.jpg)
产品选型
公制型
货号 | 测量范围 | 分辨力 | 精度 * | 备注 |
数显型 ( LCD) |
422-230 | 0 - 25mm | 0.001mm | ±3µm | A 型 |
422-231 | 25 - 50mm |
422-232 | 50 - 75mm |
422-233 | 75 - 100mm | ±4µm |
422-260 | 0 - 25mm | ±3µm | B 型 |
422-261 | 25 - 50mm |
422-270 | 0 - 25mm | C 型 |
422-271 | D 型 |
* 不包括量化偏差
公制型(Quickmike 型)
货号 | 测量范围 | 分辨力 | 精度 * | 备注 |
数显型 ( LCD) |
422-411 | 0 - 30mm | 0.001mm | ±3µm | A 型 |
422-412 | 25 - 50mm |
* 不包括量化偏差
公制型:
货号 | 测量范围 | 分辨力 | 精度 * | 备注 |
普通型 |
122-101 | 0 - 25mm | 0.01mm | ±3µm | A 型 |
122-102 | 25 - 50mm |
122-103 | 50 - 75mm |
122-104 | 75 - 100mm | ±4µm |
122-105 | 100 - 125mm |
122-106 | 125 - 150mm |
122-107 | 150 - 175mm | ±5µm |
122-108 | 175 - 200mm |
122-109 | 200 - 225mm |
122-110 | 225 - 250mm | ±6µm |
122-115 | 250 - 275mm |
122-116 | 275 - 300mm |
122-111 | 0 - 25mm | 0.01mm | ±3µm | B 型 |
122-112 | 25 - 50mm |
普通型 | |
122-161 | 0 - 25mm | 0.01mm | ±3µm | C 型 |
122-162 | 25 - 50mm |
122-141 | 0 - 25mm | D 型 |
122-142 | 25 - 50mm |
注 : 1 ) 数显型和 422-230 型提供一个隔热罩作为标准配件。
产品图片:
产品尺寸:
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/3/635757614401590000.jpg)