122-112日本三丰薄片型千分尺_详细资料

产品信息

特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合金测量面。3.非旋转测微螺杆型。4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。

122-112日本三丰薄片型千分尺
薄片型千分尺
422,122 系列 — 非旋转测微螺杆型
BLM-M/QM·BLM
122-112产品特点
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.非旋转测微螺杆型。
4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。
122-112参数规格
平行度 :
测量范围小于 75mm 型为 3μm
测量范围大于 75mm 型为 ( 3+R/100 ) μm,
R 为测量范围 ( mm ) ，小数圆整

类型与尺寸

422 系列电池
SR44 ( 1 个 ) , 938882, 用于初始操作检查 ( 标准附件 )

选件
连接电缆
1m: 05CZA662
2m: 05CZA663
USB Input Tool
USB-ITN-B ( 2m ) : 06ADV380B
连接电缆
1m: 937387
2m: 965013
USB Input Tool
USB-ITN-E ( 2m ) : 06ADV380E
Quickmike
Quickmike的快速进给速度可达 10mm/rev,可快速测量不同形状的工件。
垂直方向上的测砧和测微螺杆之间的偏差

产品选型
公制型

货号

测量范围

分辨力

精度 *

备注

数显型 ( LCD)

422-230

0 - 25mm

0.001mm

±3µm

A 型

422-231

25 - 50mm

422-232

50 - 75mm

422-233

75 - 100mm

±4µm

422-260

0 - 25mm

±3µm

B 型

422-261

25 - 50mm

422-270

0 - 25mm

C 型

422-271

D 型

* 不包括量化偏差
公制型(Quickmike 型)

货号

测量范围

分辨力

精度 *

备注

数显型 ( LCD)

422-411

0 - 30mm

0.001mm

±3µm

A 型

422-412

25 - 50mm

* 不包括量化偏差
公制型：

货号

测量范围

分辨力

精度 *

备注

普通型

122-101

0 - 25mm

0.01mm

±3µm

A 型

122-102

25 - 50mm

122-103

50 - 75mm

122-104

75 - 100mm

±4µm

122-105

100 - 125mm

122-106

125 - 150mm

122-107

150 - 175mm

±5µm

122-108

175 - 200mm

122-109

200 - 225mm

122-110

225 - 250mm

±6µm

122-115

250 - 275mm

122-116

275 - 300mm

122-111

0 - 25mm

0.01mm

±3µm

B 型

122-112

25 - 50mm

普通型

122-161

0 - 25mm

0.01mm

±3µm

C 型

122-162

25 - 50mm

122-141

0 - 25mm

D 型

122-142

25 - 50mm

注 : 1 ) 数显型和 422-230 型提供一个隔热罩作为标准配件。
产品图片：

产品尺寸：

您可能感兴趣的产品

122-112日本三丰薄片型千分尺

产品信息

联系我们

关注我们

货号	测量范围	分辨力	精度 *	备注
数显型 ( LCD)
422-230	0 - 25mm	0.001mm	±3µm	A 型
422-231	25 - 50mm
422-232	50 - 75mm
422-233	75 - 100mm		±4µm
422-260	0 - 25mm		±3µm	B 型
422-261	25 - 50mm			B 型
422-270	0 - 25mm			C 型
422-271	0 - 25mm			D 型