艾先生 134-2890-5334 Q 246639-6154
1.X射线衍射仪元素分析仪装置XRD-6000(2kW,NF Cu管球)1套
2.石墨单色仪(CM-3121)1套
3.环境测定样品台(RS-2001)
【规格】
・旋转样品台
・基底标准吸收校正用滤片架(Zn)
・环境定量软件1套
4.冷却水循环装置1套选配件
1.基底标准吸收校正用滤片架(Al)
2. ICDD数据库(PDF2 CD-ROM)
3.PDF2检索软件
适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。
在劳动安全卫生法中,关于因劳动者在工作中的暴露而对其造成健康损害的92种物质,规定必须实施其作业环境的测定。其中,粉尘中的游离硅以及石棉的定性・定量分析可以使用X射线衍射装置。Z近因相关法规的修订,对有害物质的管理浓度、分析程序进行了修改。 本测定包配备了依据「基底标准吸收校正法」的样品台和定量软件,这不仅是使用X射线衍射装置XRD-6000对收集在滤纸上的工业环境测定中的游离硅、石棉进行定性分析需要的,在这些微量样品的定量分析中也是必备的。
游离硅的定性・定量分析
工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。(从2005年4月1日开始实行)
E=3.0/(0.59Q+1) (参考)修订前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理浓度mg/m3 Q:游离硅含有率(%)
所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中,首先规定使用X射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅(定性分析),根据其定性结果,以使用磷酸法或X射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。 下图表示这些游离硅的衍射模式,分别具有各自的特征峰,因此,易于识别其种类。 目标物质的衍射X射线强度因受基底物质吸收的影响,必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质的X射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是「基底标准吸收校正法」。本测定包包括采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。XRD-6100具有本质安全结构。