X荧光矿石分析仪XRF|江苏天瑞仪器股份有限公司
产品介绍
我国的地质矿产行业,从一开始均采用化学分析的手段对地质样品进行测试,这种方法一直沿用到现在依然是一种非常可靠的方法,但是其测试速度慢、对测试人员要求高、测试环境要求高,无法实现现场快速分析。
从70年代末开始一直在引入国外的分析设备来不断提升分析测试能力,到今天X荧光矿石分析仪在地矿系统中应用非常广泛,产品分为台式X荧光矿石分析仪和便携式X荧光矿石分析仪。
性能特点
X荧光法在应用于矿石行业的特点很明显,分析速度快,前处理简单,样品无损、人为误差小、分析范围广、检出限达到ppm级等的特点。可以测液体、固体和粉未样品。可用于室内外现场分析
。
1、设备简单易用(野外设备需要便携)
2、可快速对样品做定性分析
3、对样品可做半定量或准定量分析。
4、样品处理方法简单或无前处理
5、设备可靠、维修、维护简单
6、便捷、低廉的售后服务保证
仪器分析精度
测试
便携式X荧光矿石分析仪测定多金属矿中元素的方法
测试对象:多金属矿
仪器:Genius 7000XRF
测定步骤:
步:前处理样品-粉碎后压片10g左右直接测试。
第二步:确定测试时间:30S
第三步:测试其重复性得出相对标准偏差
测试结果