贵金属镀层测厚仪器

• 企业类型：制造商
• 新旧程度：全新
• 原产地：昆山市玉山镇中华园西路1888号
• 适用行业：电镀厂，电子厂、高低压配件厂
• 镀种：镀金银铜锡镍铬锌等
• 测量范围：0.005微米~50微米
• 测试原理：X射线光谱仪分析原理

技术参数

元素分析范围：从硫（S）到铀（U）

测量对象：固体、液体、粉末

测量精度:0.05%

分析检出限：可达1ppm

分析含量：一般为1ppm－99.9％

多次测量重复性：0.1％

长期工作稳定性：0.1％

温度适应范围：15℃－30℃

测量湿度：≤70％

测量时间：60－300秒

电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）

参数规格

单样品腔

二维软件控制自动移动样品平台

激光定位装置。

准直器（8个）自动切换装置（范围0.1mm－0.8mm）

正比计数盒探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测

金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定

主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业

尤其是黄金及黄金饰品的含量检测