天瑞荧光多元素分析仪器
产品简介
采用进口的美国AMPTEK航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用进口X光管
采用专用的X射线高压发生器
采用RS232串口通讯
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备品Pai电脑
配备常用的制样工具
配备专用的压片机
配备专用的测试样环
配备专用的测试硬标样
天瑞荧光多元素分析仪器
技术参数:
分析元素范围:Mg-U(主要是:Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd);
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同);
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合专利的数字脉冲处理技术;
管压:0kV-30kV(激发源为 30KV-钨靶微型X射线管);
管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
整机功率:50W;
整机能量分辨率:150±5eV;
检测时间: 60秒-200秒(可调);
工作环境温度:温度15-30℃;
测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短;
天瑞荧光多元素分析仪器
应用领域
适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、钢铁检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素等)、水泥等企业在生产过程中对产品质量进行监测;