扫描道光谱仪，顺序道波谱仪，固定道荧光仪WDX4000,生产厂家制造商天瑞仪器_详细资料

产品信息

扫描道光谱仪，顺序道波谱仪，固定道荧光仪WDX4000,生产厂家制造商天瑞仪器是江苏天瑞仪器股份公司在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上，在国家重大科学仪器设备开发专项（项目编号：2011YQ170065）资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出的国内台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。

企业名称：天瑞仪器
扫描道光谱仪，顺序道波谱仪，固定道荧光仪WDX4000,生产厂家制造商天瑞仪器
型号：WDX 4000
产品简介、技术参数及配置
WDX-4000 是江苏天瑞仪器股份公司在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上，在国家重大科学仪器设备开发专项（项目编号：2011YQ170065）资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出的国内台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试，能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素，可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计，可以提供给客户经济便捷的维护。

扫描道光谱仪，顺序道波谱仪，固定道荧光仪WDX4000,生产厂家制造商天瑞仪器性能特点:

创新的测角仪设计
专利保护的创新型钢带传动系统，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证精度的角度定位要求；
θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；
永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动；
圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；

数字多道分析仪
12位，80M/s的模数转换采样率，是业界分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号
大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数

X射线光管和高压
标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度
50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过
高压电源电压和电流可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数
双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以限度延长光管工作寿命其他
多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力
薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，极大提升了轻元素的光通量

其他：
光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内
晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制
软件
完整而丰富的软件功能
32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面
成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据
基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析
集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理

扫描道光谱仪，顺序道波谱仪，固定道荧光仪WDX4000,生产厂家制造商天瑞仪器技术参数

进样系统
样品形式：固体
样品尺寸：51.5 mm × 40 mm
样品重量：重500g
进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰
自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品
自旋装置：3种自旋速度（低、中、高）
X射线光管
铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率
阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等
工作模式：样品进样时保持工作状态不变
水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性：0.01%/8 hours
温度稳定性：50 ppm/C
（20 ppm/C可选）.
数据
功率：4kW
KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；电压75kV，电流160mA可选.
测角仪
工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动
转角速度：6000 2θ/min
测角精度：0.006° θ / 2θ
测角重复性：0.0002° θ / 2θ
步进角度：小 0.0001°，1°
角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩：单面罩，（其他尺寸27， 32 or 50mm可选）
主准直器：多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um，可选
主滤光片：多4片: Pb，Al，Cu等元素可选
晶体：多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器：流气比例计数器（FPC），可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器（SC）
光室真空度：<15Pa
信号处理
数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
计数率：流气比例计数器:2Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正：自动
时间校正：自动
如需详细了解，请联系销售热线！

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