单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪型号JC03-LT-3特点:该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；可测单晶少子寿命范围：1μS-10000μS；配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；余辉<1μS；闪光频率为：20-30次／秒；前置放大器：放大倍数约25；测量方式：采用对标准曲线读数方式；
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