临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展_详细资料

产品信息

产品简介:EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比，该仪器采用半导体激光器作为光

产品简介:$n $nEX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比，该仪器采用半导体激光器作为光源，稳定性好，体积更小。$nEX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。$nEX3仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。$n特点:$n经典消光法椭偏测量原理$n仪器采用消光法椭偏测量原理，易于理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。$n方便安全的样品水平放置方式$n采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。$n紧凑的一体化结构$n集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便仪器使用。$n高稳定性光源$n采用半导体激光器作为探测光的光源，稳定性高，噪声低。$n丰富实用的样品测量功能$n可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率等。$n便捷的自动化操作$n仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。$n安全的用户使用权限管理$n软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、等模式），便于仪器管理和使用。$n可扩展的仪器功能$n利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。$n应用领域:$nEX3适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。$nEX3可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。$n技术指标:
n$n $n $n $n 项目$n $n $n 技术指标$n $n $n $n $n 仪器型号$n $n $n EX3$n $n $n $n $n 测量方式$n $n $n 自动测量$n $n
临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展多种型号图片
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型号:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）型号:JX200097EM01-RD 多入射角激光椭偏仪型号:JX200091EX3自动椭圆偏振测厚仪

【临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号，如没有合适您的产品请咨询河北德科机械设备有限公司】临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展多种型号内容
型号:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）

$n
$nEM12-PV是采用量拓科技先进的测量技术，针对中端精度需求的光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。
$nEM12-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。
$nEM12-PV融合多项量拓科技专利技术，采用一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品。一键式多线程操作软件，使得仪器操作简单安全。
$n特点：
$n粗糙绒面纳米薄膜的测量
$n先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面纳米镀层的检测。
$n次纳米量级的高灵敏度和准确度
$n国际先进的采样方法、稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了高准确度和稳定性，测量绒面减反膜的厚度精度优于0.2nm。
$n1.6秒的快速测量
$n国际水准的仪器设计，在保证极高精度和准确度的同时，可在1.6秒内快速完成一次测量，可满足快速多点检测和批量检测需求。
$n简单方便安全的仪器操作
$n一键式操作设计，用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。
$n应用：
$nEM12-PV适合于光伏领域中端精度要求的工艺研发和现场的质量控制。
$nEM12-PV可用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面上单层减反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型纳米膜层包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，应用领域包括晶体硅太阳电池、薄膜太阳电池等。
$nEM12-PV也可用于测量光滑平面基底上的单层或双层纳米薄膜，包括膜层的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系数k。也可用于测量块状材料（包括，液体、金属、半导体、介质等）在632.8nm下的折射率n和消光系数k。应用领域包括半导体、微电子、平板显示等。
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技术指标：
$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n
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项目
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技术指标
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仪器型号
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EM12-PV
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激光波长
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632.8nm (He-Ne Laser)
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膜厚测量重复性（^1）
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0.2nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
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0.2nm (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层)
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折射率精度（^1）
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2x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)
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2x10-3 (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层)
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单次测量时间
$n $n
与测量设置相关，典型1.6s
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光学结构
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PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度）
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激光光束直径
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1-2mm
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入射角度
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40°-90°可手动调节，步进5°
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样品方位调整
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一体化样品台轻松变换可测量单晶或多晶样品
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$n
可测量156*156mm电池样品上每个点
$n
$n
Z轴高度调节：±6.5mm
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二维俯仰调节：±4°
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$n
样品对准：光学自准直显微和望远对准系统
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样品台尺寸
$n $n
平面样品直径可达Φ170mm
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兼容125*125mm和156*156mm的太阳能电池样品
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的膜层厚度范围
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粗糙表面样品：与绒面物理结构及材料性质相关
$n
$n
光滑平面样品：透明薄膜可达4um，吸收薄膜与材料性质相关
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外形尺寸
$n $n
887 x 332 x 552mm (入射角为90º时)
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仪器重量（净重）
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25Kg
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选配件
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水平XY轴调节平移台
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真空吸附泵
$n
$n
软件
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ETEM软件：
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中英文界面可选
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太阳能电池样品预设项目供快捷操作使用
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单角度测量/多角度测量操作和数据拟合
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方便的数据显示、编辑和输出
$n
$n
$n
丰富的模型和材料数据库支持
$n
$n
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$n注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的标准差。
$n性能保证：
$n稳定的He-Ne激光光源、先进的采样方法以及低噪声探测技术，保证了稳定性和准确度
$n一体化样品台技术，兼容单晶和多晶硅太阳电池样品,轻松变换可实现准确测量
$n高精度的光学自准直显微和望远系统，保证了快速、高精度的样品方位对准
$n新型样品调节技术，有效提高样品定位精度，并节省操作时间
$n新型光电增强技术和独特的噪声处理方法，显著降低现场噪声的影响
$n一体化集成式仪器整体设计，保证了系统稳定性，并节省空间
$n分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量
$n一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用
$n可选配件：
$n NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
$n NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片
$n VP01真空吸附泵
$n VP02 真空吸附泵
$n

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.html
EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）
型号:JX200097EM01-RD 多入射角激光椭偏仪

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$n特别声明：
$nEM01-RD多入射角激光椭偏仪（研发级）已升级至EMPro31 型多入射角激光椭偏仪，主要升级内容包括：
$n单次测量速度提高3倍;
$n新的仪器外形;
$n整体稳定性增强.
$n纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪，用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。采用量拓科技多项专利技术，仪器操作具有个性化定制功能，方便使用。
$n特点：
$n高精度、高稳定性
$n 一体化集成设计
$n快速、高精度样品方位对准
$n多入射角度测量
$n快速反应过程的实时测量
$n操作简单
$n丰富的材料库及物理模型
$n强大的数据分析和管理
$n应用领域：
$n可对纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k进行快速、高精度、高准确度的测量，尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发
$n可用于表征单层纳米薄膜、多层纳米层构膜系，以及块状材料（基底）。
$n应用领域涉及纳米薄膜的几乎所有领域，如微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、电化学、磁介质存储、聚合物及金属表面处理等。
$n性能保证：
$n高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度
$n.高精度的光学自准直望远系统，保证了快速、高精度的样品方位对准
$n稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量
$n分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量
$n一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间
$n专用软件方便纳米薄膜样品的测试和建模。
$n技术指标：
$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n
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激光波长
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632.8nm (He-Ne laser)
$n
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膜厚测量重复性
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0.01nm (对于Si基底上110nm的SiO2膜层)
$n
$n
折射率精度
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1x10-4 (对于Si基底上110nm的SiO2膜层)
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光学结构
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PSCA
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激光光束直径
$n $n
<1mm
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入射角度
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40°-90°可选，步进5°
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样品方位调整
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三维平移调节
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二维俯仰调节
$n
光学自准直系统对准
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样品台尺寸
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Φ170mm
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单次测量时间
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0.2s
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推荐测量范围
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0-6000nm
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外形尺寸(长x宽x高)
$n $n
887 x 332 x 552mm (入射角为70º时)
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$n
仪器重量（净重）
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25Kg
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$n可选配件：
$nNFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
$nNFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片
$nVP01真空吸附泵
$nVP02真空吸附泵
$n样品池
$n
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光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.html
EM01-RD 多入射角激光椭偏仪
型号:JX200091EX3自动椭圆偏振测厚仪

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$nEX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器相比，该仪器采用半导体激光器作为光源，稳定性好，体积更小。
$nEX3仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。
$nEX3仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。
$n特点:
$n经典消光法椭偏测量原理
$n仪器采用消光法椭偏测量原理，易于理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。
$n方便安全的样品水平放置方式
$n采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。
$n紧凑的一体化结构
$n集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便仪器使用。
$n高稳定性光源
$n采用半导体激光器作为探测光的光源，稳定性高，噪声低。
$n丰富实用的样品测量功能
$n可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率等。
$n便捷的自动化操作
$n仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。
$n安全的用户使用权限管理
$n软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、等模式），便于仪器管理和使用。
$n可扩展的仪器功能
$n利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。
$n应用领域:
$nEX3适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。
$nEX3可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。
$n技术指标:$n
$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n
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项目
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技术指标
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仪器型号
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EX3
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测量方式
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自动测量
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样品放置方式
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水平放置
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光源
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半导体激光器，波长635nm
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膜厚测量重复性*
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0.5nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层)
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膜厚范围
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透明薄膜：1-4000nm
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吸收薄膜则与材料性质相关
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折射率范围
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1.3 – 10
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探测光束直径
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Φ2-3mm
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入射角度
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30°-90°，精度0.05°
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偏振器方位角读数范围
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0-360°
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偏振器步进角
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0.014°
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样品方位调整
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Z轴高度调节：16mm
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二维俯仰调节：±4°
$n
$n
允许样品尺寸
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圆形样品直径Φ120mm，矩形样品可达120mm x 160mm
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配套软件
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* 用户权限设置
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* 多种测量模式选择
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* 多个测量项目选择
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* 方便的数据分析、计算、输入输出
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外形尺寸
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（入射角度70°时）450*375*260mm
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仪器重量（净重）
$n $n
15Kg
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$n注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次的标准差。
$n性能保证:
$nISO9001国际质量体系下的仪器质量保证
$n专业的仪器使用培训
$n专业的椭偏测量原理课程
$n
$n

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200091.html
EX3自动椭圆偏振测厚仪

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EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用） VP02 真空吸附泵 EM01-RD 多入射角激光椭偏仪 EX3 自动椭圆偏振测厚仪 EMPro-PV 型多入射角激光椭偏仪（光伏专用） EX3自动椭圆偏振测厚仪
临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展
【河北润联科技开发有限公司】创新科技先锋品Pai★★诚信经营企业★★电子商务企业奖★★工业产品推荐★★机械行业品Pai★★拨打电话请告诉我产品订货号，热线：【牛经理400-076-1255】
【温馨提示】
$n本公司产品因产品种类繁多，详细配置价格请致电咨询！
$n[河北德科机械设备有限公司]——是集科研、开发、制造、经营于一体，的工程试验仪器专业制造实体。公司主要经营砼混凝土仪器,水泥试验仪器,砂浆试验仪器,泥浆试验仪器,土工试验仪器,沥青试验仪器,公路集料仪器,防水材料仪器,公路岩石仪器,路面试验仪器,压力试验机养护室仪器及实验室耗材等上百种产品。$n在以雄厚的技术底蕴在强化自主开发的同时，积极采用国内外先进技术标准，寻求推进与大专院校，科研单位的协作互补，以实现新产品开发的高起点，在交通部、建设部及科研所专家们的指导下，产品不断完善，不断更新。已广泛用于建材，建筑施工，道桥建设，水电工程和机械，交通、石油、化工等领域的质量检测。并同国内外各试验仪器厂建立了长期合作关系，严把质量关，价格更优惠！$n公司拥有现代化钢构仓库4000多平方米，并配备业内的装备设施，车辆出入方便，仓库管理实现标准化、GX化管理，确保仪器设备不断货。$n众多众多知名试验仪器及测量、测绘电子厂家直供，国内外一线知名仪器品Pai汇聚于此，更是众多新品上线网购平台的之地。全国服务队伍专业快捷服务，完善的呼叫ZX服务体系，咨询热线：[牛经理400-076-1255]迅速解决客户问题，专业提供优质GX的售后服务。$n润联为您提供详细的产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取产品的具体资料，联系时请说明是在润联看到的，并告知型号
【关于合作】
$n我们本着精益求精、经销诚实守信、服务热情周到的服务宗旨和协助伙伴成就事业从而成就自己的事业的立业精神，为客戶提供的品质和服务。因产品种类多没有一一上传,如有需要,请联系我们。
【关于发货】
$n我们会在确认合作方式以及合作达成时为您发货考虑到成本的因素，我们一般采用物流发货，不过请您放心，因为我们的外地客户非常之多，基本上我们业务已经覆盖全国，所以物流公司都是我们精心筛选的，不管是发货时间，还是价格都是满意的，同时我们在交付物流公司后将在时间告知客户，并且我们会将物流费用一并告知发货打包我们都有专人严格检查商品的质量的，请放心购买。联系方式:电话:400-076-1255

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型号:JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）	型号:JX200097EM01-RD 多入射角激光椭偏仪	型号:JX200091EX3自动椭圆偏振测厚仪

$n 项目 $n	$n 技术指标 $n
$n 仪器型号 $n	$n EM12-PV $n
$n 激光波长 $n	$n 632.8nm (He-Ne Laser) $n
$n 膜厚测量重复性（^1） $n	$n 0.2nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 膜厚测量重复性（^1） $n	$n 0.2nm (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层) $n
$n 折射率精度（^1） $n	$n 2x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 折射率精度（^1） $n	$n 2x10-3 (对于绒面Si基底上80nm的Si3N4膜层) $n
$n 单次测量时间 $n	$n 与测量设置相关，典型1.6s $n
$n 光学结构 $n	$n PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度） $n
$n 激光光束直径 $n	$n 1-2mm $n
$n 入射角度 $n	$n 40°-90°可手动调节，步进5° $n
$n 样品方位调整 $n	$n 一体化样品台轻松变换可测量单晶或多晶样品 $n
	$n 可测量156*156mm电池样品上每个点 $n
	$n Z轴高度调节：±6.5mm $n
	$n 二维俯仰调节：±4° $n
	$n 样品对准：光学自准直显微和望远对准系统 $n
$n 样品台尺寸 $n	$n 平面样品直径可达Φ170mm $n
$n 样品台尺寸 $n	$n 兼容125125mm和156156mm的太阳能电池样品 $n
$n 的膜层厚度范围 $n	$n 粗糙表面样品：与绒面物理结构及材料性质相关 $n
$n 的膜层厚度范围 $n	$n 光滑平面样品：透明薄膜可达4um，吸收薄膜与材料性质相关 $n
$n 外形尺寸 $n	$n 887 x 332 x 552mm (入射角为90º时) $n
$n 仪器重量（净重） $n	$n 25Kg $n
$n 选配件 $n	$n 水平XY轴调节平移台 $n
$n 选配件 $n	$n 真空吸附泵 $n
$n 软件 $n	$n ETEM软件： $n
	$n $n $n 中英文界面可选 $n $n $n 太阳能电池样品预设项目供快捷操作使用 $n $n $n 单角度测量/多角度测量操作和数据拟合 $n $n $n 方便的数据显示、编辑和输出 $n $n $n 丰富的模型和材料数据库支持 $n $n $n

$n 激光波长 $n $n	$n 632.8nm (He-Ne laser) $n
$n 膜厚测量重复性 $n	$n 0.01nm (对于Si基底上110nm的SiO2膜层) $n
$n 折射率精度 $n	$n 1x10-4 (对于Si基底上110nm的SiO2膜层) $n
$n 光学结构 $n	$n PSCA $n
$n 激光光束直径 $n	$n <1mm $n
$n 入射角度 $n	$n 40°-90°可选，步进5° $n
$n 样品方位调整 $n	$n 三维平移调节 $n 二维俯仰调节 $n 光学自准直系统对准 $n
$n 样品台尺寸 $n	$n Φ170mm $n
$n 单次测量时间 $n	$n 0.2s $n
$n 推荐测量范围 $n	$n 0-6000nm $n
$n 外形尺寸(长x宽x高) $n	$n 887 x 332 x 552mm (入射角为70º时) $n
$n 仪器重量（净重） $n	$n 25Kg $n

临汾光谱椭偏仪鹤岗塑料薄膜厚度测量仪鹤岗产业的发展

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