ZSM-B 三阶非线性极化率的Z扫描法参数测量实验系统

一、产品简介

测量光致非线性折射率是研究介质三阶非线性光学性质的重要手段，而测量非线性折射率的方法已有很多：非线性干涉技术、简并四波混频、自衍射、椭偏术及光束畸变测量等。20世纪90年代初发展起了一种Z扫描法，这种测量方法不仅可以用单光束测量，而且可以用同一装置测出非线性折射率和非线性吸收系数，即三阶非线性极化率的实部和虚部，因而受到人们的青睐。

二、知识点

    非线性吸收、三阶非线性效应、光克尔效应、光束的自聚焦

三、涉及课程

非线性光学、光电检测、工程光学、应用光学、物理光学

四、实验内容

      1、  Z扫描法测量非线性折射率系数

            2、Z扫描法测量非线性吸收系数ZSM-B 三阶非线性极化率的Z扫描法参数测量实验系统