3504-50 日本日置3504-50电容测试仪、日本日置3504-50_详细资料

产品信息

加工定制否品Pai 日本日置

型号 3504-50

是否提供加工定制否类型 C测试仪
品Pai 日本日置 Hioki 型号 3504-50
测量范围详见说明精确度详见说明
仪表尺寸 260W × 100H × 220D（mm）适用范围 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
仪表重量 3.8（kg）工作电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大40VA（V）
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等能根据C和D（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容静电容量:多可分成14类，能简单地根据测量值进行分类测试源频率: 120Hz, 1kHz高速测量: 2msRS-232C, GP-IB输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件基本参数
测量参数
Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围
C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本确度
（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016
※测定确度=基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～170μF量程(测量频率1kHz),～1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV 500mV:～170μF量程(测量频率1kHz),～1.45mF量程(测量频率120Hz)
CV 1V:～70μF量程(测量频率1kHz),～700μF量程(测量频率120Hz)
输出电阻
5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示
发光二级管（6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间
典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
4端子控制检测功能（3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-CYZ功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源
AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz,Z大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1

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是否提供加工定制	否	类型	C测试仪
品Pai	日本日置 Hioki	型号	3504-50
测量范围	详见说明	精确度	详见说明
仪表尺寸	260W × 100H × 220D（mm）	适用范围	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
仪表重量	3.8（kg）	工作电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大40VA（V）