3504-10日本日置HIOKIC 3504测试仪 3504-10日本日置HIOKIC 3504测试仪

测量参数

Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tan）

测量范围

C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000

基本確度

（代表値）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各係数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ～ 70 μF 量程（测量频率1kHz）
CV1V: ～ 700 μF 量程（测量频率120Hz）
CV500 mV: ～ 170 μF 量程（测量频率1kHz）
CV500 mV: ～ 1.45mF 量程（测量频率120Hz）
信号电平精度 ±10% ± 5 mV

输出电阻

5Ω（CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外）

显示

发光二级管

测量时间

典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

機能

BIN 分选测量功能（于3504）, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口（标准）, GP-IBイ接口（于3504）

电源

AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1