深圳市森东宝科技有限公司(Cindbest),专业从事探针台设备的研发、生产、销售和服务的高新技术企业。主营产品有:cindbest 品牌手动探针台(包含晶圆测试探针台、射频探针台、双面探针台、气敏探针台、真空高低温探针台等)、自动探针台、探针台配件、激光测试仪、美国GGB探针
公司介绍
深圳市森东宝科技有限公司(Cindbest)为森东宝国际有限公司(Cidabo International Limited)在大陆的全资子公司,专业从事探针台设备的研发、生产、销售和服务的高新技术企业。主营产品有:cindbest 品Pai手动探针台(包含晶圆测试探针台、射频探针台、双面探针台、气敏探针台、真空高低温探针台、直流测试探针台)、自动探针台、探针台配件、激光测试仪、美国GGB探针(包含射频探针、微波探针、高频探针、直流探针等)、蜂窝式光学平台、金相显微镜、I-V/C-V参数测试仪等。其中cindbest品Pai探针台获得国家专利授权。
深圳cindbest直流测试探针台生产厂家
目前cindbest营销网点已立足于深圳、香港、上海、长沙、西安等城市,服务过上百家客户,其中探针台的部分案例有:清华大学、北京大学、中山大学、天津大学、厦门大学、东南大学、深圳大学、湖北大学、燕山大学、ZG矿业大学、西北大学、华中科技大学、北京航空航天大学、上海科技大学、上海交通大学、江南大学等。
cindbest专注于为半导体、LCD、太阳能、等行业领域提供综合性解决方案,为全国各大高校、科研院所及企事业单位提供先进的测试仪器,立志成为行业的探针台专用检测设备专家,为行业的发展贡献自己的力量。
森东宝为GGBZG区正式授权代理商,欢迎各位新老客户前来咨询。
CS系列探针台造型小巧,测量精度高,操作方便,符合人机工程学。主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。
同类案例:清华大学材料系,北京大学化学系,厦门大学,中山大学,华侨大学,南京邮电大学,成都电子科技大学等客户。
如需更多详细参数,请联系我们。
深圳cindbest直流测试探针台生产厂家
性能特点 (除基本功能外的其它特质,例如工作时长、操作简便性等)
CS探针台能够胜任的测试有:
序号 | 根据测试样品分类 | | 序号 | 根据应用分类 |
1 | 晶圆测试 | | 1 | 射频测试 |
2 | LED测试 | | 2 | 高温环境测试 |
3 | 功率器件测试 | | 3 | 低电流(100fA 级)测试 |
4 | MEMS测试 | | 4 | I-v/c-v/p-iv测试 |
5 | PCB测试 | | 5 | 高压,大电流测试 |
6 | 液晶面板测试 | | 6 | 磁场环境测试 |
7 | 太阳能电池片测试 | | 7 | 辐射环境测试 |
8 | 材料表面电阻率测试 | | 9 | 积分球测试 |
技术参数 (例如材质、工艺、尺寸的技术标准等)
规格 |
Chuck(可选) | 4" 或6" 不锈钢,真空吸附型,独立开关控制 |
Chuck X-Y轴行程,精度 | 4" x4",10um |
Chuck 旋转角度 | 0~360 度 |
Chuck 旋转角度微调精度 | 0.01° |
Chuck快速升降(选配) | 4mm |
Chuck微调升降(选配) | 4mm ,1um精度 |
Chuck 平整度 | 5um |
针座平台 | C型设计,可放置8个BT 型针座,可扩展为O型平台 |
针座平台平整度 | 5 um |
显微镜Z轴行程,精度 | 2",细调精度0.1um |
需求 |
电力 | 220 VAC, 60Hz |
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真空 | -250 mmHg, 7 liter/min |
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尺寸 |
320mm宽*320mm长*400mm高(带显微镜) |
重 20 Kg(带显微镜) |
可选附件 |
激光切割 |
加热台 |
防震桌 |
显微镜暗场 / DIC/Normarski 检测 |
光强/波长测试接口部件 |
射频测试探头和线缆 |
有源探头 |
低电流/电容测试 |
高压测试 |
CCD视频系统 |
液晶漏电分析套装 |
屏蔽箱 |
镀金Chuck |
使用说明 (例如使用场所、工作原理、产品结构、安全操作说明等)
探针台的使用
- 将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
- 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
- 使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
- 显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,再微调显微镜聚焦和样品x-y,将影像调节清晰,带测点在显微镜视场ZX。
- 待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢,以防动作过大误伤芯片,当探针针尖悬空于被测点上空时,可先用Y轴旋钮将探针退后少许,再使用Z轴旋钮进行下针,则使用X轴旋钮左右滑动,观察是否有少许划痕,证明是否已经接触。
- 确保针尖和被测点接触良好后,则可以通过连接的测试设备开始测试。
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采购须知 (例如发货时间、运输方式、售后服务事项等)
常见故障的排除
当您使用本仪器时,可能会碰到一些问题,下表列举了常见的故障及解决方法。
症状 | 可能原因 | 解决方法 |
移动样品后画面变模糊 | 显微镜不垂直 | 调垂直显微镜 |
样品台不水平 | 调水平样品台 |
样品不平 | |
显微镜视场亮度不足,边缘切割或看不到像 | 转换器不在定位位置上 | 把转换器转到定位位置上 |
管镜转盘不在定位位置上 | 把管镜转盘转到定位位置上 |
照明的亮度不足 | 调节光源亮度或者把孔径光栏孔调大 |
没有装目镜 | 装上目镜 |
没有装物镜 | 装上物镜 |
显微镜像质变差 | 目镜脏 物镜脏 管镜脏 | 对目镜,物镜,管镜脏的地方进行清洁 |
孔径光栏关的太大或者太小 | 调节孔径光栏 |
没有调好焦 | 调节调焦手轮 |
样本上盖有盖玻片等介质 | 移开盖玻片等介质 |
图像一边清晰,一边模糊 | 样本倾斜放置 | 放平样本,或者调节样品台水平 |
物镜没有旋紧 | 旋紧物镜 |
眼睛容易疲劳 | 双目头的瞳距和操作者不匹配 | 调节双目头的瞳距 |
| 目镜视度调节不正确 | 调节目镜视度 |
| 照明亮度不合适 | 调节光源亮度或者孔径光栏孔 |
产品实拍图: