产品简介:技术特点1.配置专利技术“样品免拆分”检测模式：采用专利技术的光路结构，小照射光斑直径可达到1mm，辅以的光斑定位系统，从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
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| 型号:RL130620Innov-X便携式合金分析仪 | $n型号:RL130627ROHS检测仪器光谱分析仪 | $n型号:RL130630X荧光光谱仪NAU1000 | $n
主要技术参数
型号 | ES730 | ES760 | ES790 |
测试范围 | RoHS | RoHS/EN71 | RoHS/EN71/卤素（CL） |
探测范围 | Na(11)~U(92)之广泛范围内的元素含量分析 | ||
检出下限 | 一般元素检出下限为2.0ppm，合金成份5ppm | ||
X射线管 | Ti或Rh或W阳极靶，140micro Be窗，风冷 | ||
X-Ray发生器 | 管压4~50KV（调整间距：0.1KV，管流0~100μA，调整间距：0.2μA），5W | ||
稳定性 | 8小时变化量小于0.1% | ||
探测器 | Si-PIN，电子扇冷却 | ||
解析度 | 140eV—175eV | ||
准直器 | 2，3，5mm | ||
探测窗 | Be,12μm | ||
系统尺寸 | 标准型：43cm X 34cm X 20cm 加大型：50cm X 50cm X 38cm | ||
系统电源 | 110VAC/60HZ 或 220VAC/50HZ | ||
系统功率 | 50W | ||
模数转换 | 4096通道，连续逼近，滑行刻度 | ||
获取时间 | 10—240秒 | ||
选择配置 | 8微型样品腔自动切换功能，样品定位相机 | ||
操作软体 | ElvaX控制套装软体，运行于Windows 98,2000,XP or NT(中/英文) | ||
控制专案 | X－－-ray 输出，测试参数设定，样品及滤光片选择 | ||
光谱处理 | 自动顶点搜索，顶点消除，背景消除，自动元素识别 | ||
定量分析运演算法则 | 基本参数，二次方程式衰减，手动光谱对比 |
技术特点
1.配置专利技术“样品免拆分”检测模式：采用专利技术的光路结构，小照射光斑直径可达到1mm，辅以的光斑定位系统，从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
2.配置符合ZG国家标准的样品混测功能：方形4mmⅩ4mm光斑设计，配合1mm光斑配合使用，能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能；从而显著节省测量时间，大幅度提高检测效率
3.配置On-Line实时在线技术支持系统（选配）：实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题，同时对用户操作人员进行培训
4.配置十二组复合滤光片：NaU1000型配置了12组复合型滤光片，是业界配置全、数目多的配置之一；12组滤光片的配置，极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性
5.内置标准工作曲线：仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线，方便用户直接使用；并与国家指定的认证检测实验室保持一致
6.具备开放的工作曲线技术平台：基于开放的工作曲线技术平台，电子企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线，确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性
7.分析软件操作系统分级管理：仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单，便于工厂有序管理；操作员菜单简单直观，避免仪器重要参数的误修改；工程师菜单功能强大，仪器的各种参数设置权限全部开放给用户
8.采用经典的迷宫式辐射防护结构：采用了经典的迷宫式辐射防护结构，在保持仪器外形美观操作方便的同时，彻底杜绝低能散射X射线的泄露
9.可选配专利技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能：纳优科技的“影响权系数法”多层镀层测厚技术，显著提高镀层厚度测量的准确度；可测量镀层数量为9层；彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题
1.外观设计实用美观：符合人体工程学的仪器外形设计，操作人员测量过程方便舒适
分析方法及系统软件
分析方法配置：
1.基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
2.经验系数法
3.理论α系数法
软件功能描述：
4. RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
5.各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
6. 聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
7.分析报告的自主定制与输出打印
8.分析结果的保存、查询及统计
9.On-Line实时在线技术支持与技术服务功能(选配)
10 多层镀层厚度测量功能（选配）
主要配置
1.Si-PIN电制冷半导体探测器
2.侧窗钼（Mo）靶管
3.标配12组复合滤光片
4.配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
5.具备符合ZG国家标准的样品混侧功能
6.内置标准工作曲线
7.具备开放工作曲线技术平台
8.分析软件操作系统分级管理
产品参数
名称：X荧光光谱仪
型号：NaU1000
输入电压：220±5V/50Hz
消耗功率：≤500W
环境温度：15-30℃
环境湿度：≤80%（不结露）
主机外形（mm）:长＊宽＊高=820*500*425
样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*105
主机重量：约55公斤
技术指标
元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
测量时间：
对聚合物材料，典型测量时间为300秒
对铜基体材料，典型测量时间为600秒
检出限指标（LOD）：
对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
精密度指标，以连续测量7次的标准偏差σ表征：
对聚合物（塑胶）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LO（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg
对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
准确度指标，以系统偏差δ进行表征
对聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg
对铜基体材料：δ（Pb）≤150mg/Kg
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