EL140S-M 电致发光测试仪

EL140S-M EL缺陷检测仪
适用于电池片和组件，可检测缺陷包括：
■裂片
■微隐裂
■破洞
■断栅
■短路
■印刷不良
■工艺污染等缺陷。
■ 超大靶面CCD，靶面尺寸达到15 ×25mm，是普通CCD靶面的6倍
■镜头尺寸达到∮52mm,是普通工业镜头进光面积的5-8倍
■ 超低制冷温度，Z低可达-50 ℃，完全消除背景噪声
■积分式低制冷型红外增强CCD，950nm红外光透过率达到97%
■非鱼眼型镜头，避免了鱼眼镜头产生的图像扭曲、图像变形、边缘阴暗等缺陷，消除了此项重要误差
■ 功能强大的软件，品质可靠的硬件，确保产线无故障生产运行。
■ 操作简便，功能齐备，确保仪器全面解决各种缺陷检测
■ 仪器细节设计，消除人为误操作因素
■ 强大的软件功能，实现自动判别缺陷，自动报警，不合格图像单独存储
■人工判别与自动判别相结合，可找出组件细微缺陷，实现全方位检测。
■全自动检测---与产线结合，自动进样、自动定位、自动加电、自动检测、自动存储、自动检测、自动出样回归产线。实现组件无任何人工操作，避免人为损坏组件。
■鼠标随动显示，任意指向目标位置，操作快速简便
■Z大检测尺寸可达 2200mm×1200mm
■成像时间：0 ~ 5000毫秒 可调节
■图像有效像素：不小于1200万像素
■CCD制冷温度：达到-50°C
■CCD靶面尺寸：不小于25 mm × 15 mm
■镜头尺寸：大尺寸进光镜头，镜头直径不小于∮52mm
■可选配：光强度分布分析检测系统可以三维图像方式，直观、精确地生成各部分发光强度分布图，并标出光强精确数值。对各部分发电效率一目了然。
：陶女士 -8013
公司网站：http://www.sunic.com.cn
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