满足标准测量要求的电致发光测量系统价格

电致发光测量系统,电致发光测试系统,OLED测试系统,OLED测量系统是一款紧凑的进口电光参数和性能测量工具，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性。

OLED测试系统,OLED测量系统提供了快速而准确的对各种发光光源测量辐射，光度学，色度以及效率参数。

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为了测量各种光源，我们提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套电致发光测量系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量。

使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求。

这套有机电致发光测量系统能够适应外部光源测量的需要，融入Z好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。

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能够测量的光发射指标：
 发射光谱 Emission Spectrum
 辐射通量 Radiant Flux （W）
 辐照度 Irradiance （W/cm2）
 亮度 Luminance （Cd/m2）
 色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y）
 色纯度 Color Purity
 主波长 Dominant Wavelength
 峰值波长 Peak Wavelength
 发光效率Luminous Efficiency  （Cd/A）
 外部量子效率 External Quantum Efficiency

电致发光测试系统,OLED测试系统,OLED测量系统软件
这套电致发光测量软件能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。
× 控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, （具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）
× 集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；
* 实时测量发光器件

电致发光测量系统,电致发光测试系统组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件
OLED测试系统,OLED测量系统技术指标
 光谱范围：200-850nm或 350-1000nm
 探测器：2048像素Si CCD阵列
 采光周期： 1毫秒－－65秒
 光谱分辨率：1.5nm（FHWM）
 电压源 测量范围：±5μV - ±200V
 电流源测量范围：±10pA - ±1A
 电源要求：110/230VAC,
 系统尺寸：320x360x180mm
 系统重量：9.8kg