X射线荧光分析仪EDX-GP适用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到灵敏度与分辨率的结合。标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能。
岛津EDX-GP只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件, 自动执行从测定到结果的一系列操作。 | | | |
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不含有害元素时 | | X荧光光谱仪检测不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。 | ■ 适用省时功能的缩短时间示例 | | | | | 当X荧光光谱仪含量低于检出下限值时,判断不含有,测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限,与设定的200秒(=100秒+100秒)分析时间相比,仅用了50秒(=25秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。 | | 有害元素含量高时 | | 由设定的目标管理精度自动决定测定时间。 在测定精度达到管理值时结束测定。 | ■ 适用省时功能的缩短时间示例 | | | | 岛津ROHS检测仪测到测定高浓度元素时,在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度,而且误差变小,由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,设定的分析时间为200秒(=100秒+100秒),实际仅用了40秒(=15秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。 | |
本装置配置了RoHS/ELV检测中市场占有率的EDX-720型的半导体检测器、专用滤光片及高计数率电路。 | | |
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