除了具备2000型的所有功能外,还包括STM,可进行恒高度模式和恒电流模式操作,有I-V、I-Z扫描隧道谱测量功能。备有实验指导教程,适合于高校纳米科技教学、实验室的SPM培训和会议现场演示,配备本公司的高分辨CCD可从事科学研究工作。
特点
激光反射式检测工作模式
AFM接触式形貌测量,原子力曲线采集显示
STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能
特殊设计液体池,具备液体中AFM成像能力
深度陡度测量,三维显示
纳米材料粗糙度测量,颗粒粒径度量及分布统计
实时观测比照的形貌图、摩擦力图、静电力图、磁力图
实时多通道剖面图显示
为教学和研究设计,国内小型化结构,携带十分方便
DSP全数字化控制,操作简洁直观
控制主机可以采用笔记本电脑,适合课堂现场演示
XY二维样品移动平台,快速搜索感兴趣的样品区域
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
Windows全中文控制软件,面向对象设计
提供实验标准光栅、云母和HOPG样品
配有详尽的实验教学指导教程
组合光学连续变倍显微镜,独特的双光路照明,样品观测范围从1nm到20mm
360°全方位彩色CCD成像系统,方便系统调整,可实时样品录像
标准RS232串行接口或USB接口,无需任何计算机卡,安装简单迅速
技术指标
探头:
样品尺寸:≤Φ30mm
样品厚度:≤15mm
XY扫描范围:标准配置6μm×6μm,可选3μm×3μm, 10μm×10μm,
20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm
XY向分辨力:0.25nm(AFM),0.1nm(STM)
Z向分辨力:0.03nm(AFM,云母定标),0.01nm(STM,HOPG定标)
XY二维样品移动平台范围:0~5mm,精度0.5μm
步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)
仅需更换探针架,即可切换STM和AFM模式
电化学针尖块,液体池,液体成像功能(选配)
44~283X连续变倍彩色CCD观察显微系统(选配)
全金属屏蔽防震隔音箱(选配)
精密隔震平台(选配)
极限真空度:10-6托(NanoFirst-2200型)
抽速:每分钟40升(NanoFirst-2200型)
电子学控制器:
XYZ控制:18-bit D/A
数据采样:14-bit A/D 、16-bit A/D多路同步采样
Z向反馈:DSP数字反馈
反馈采样速率:64.0kHz
高压放大器:集成高压运算放大器,电压范围±150V
扫描速率:21Hz
扫描角度:0~360°
扫描偏移:任意
图像采样点:256×256或512×512
步进马达控制:手动和自动进退
计算机接口:标准RS232串行口/USB
计算机软件:
运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统,标准视窗工作界面
AFM接触模式(Contact Mode AFM)、摩擦力模式(LFM)功能
STM恒流模式、恒高模式功能(STM)
多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图
智能识别和控制系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数
DSP全数字控制的参数设置和采集
AFM激光检测系统的实时调整功能
原子力-间距(F-Z)曲线测量功能
电流-电压隧道谱(I-V曲线)测量功能(STM)
隧道电流-间隙(I-Z曲线)测量功能(STM)
静电力成像模式功能(选配)
磁力成像模式功能(选配)
支持步进马达自动驱进到扫描器ZX
支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能
实时调整本底及比例
定点实时测试I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)功能
鼠标控制扫描区域平移、剪切功能
用户任意定义调色板功能
图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能
图像在线浏览,连续图像获取文件动态重现,纳米电影功能
图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式(选配)
完备的在线式智能提示及全程帮助
样品粒度、粗糙度分析
标准离线分析和处理功能
增加第二显示器(选配)