X-Strata920 X-Strata920 镀层测厚仪

X-Strata920 镀层测厚仪

应用

X射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本GX率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

行业

     X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：

· 以更有效的过程控制来提高生产力

· 有助电镀过程中的生产成本Z小化、产量化

· 快速无损地分析珠宝及其他合金

· 快速分析多达4层镀层

· 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

· 操作简单，只需要简单的培训

X-Strata920 镀层测厚仪的性能

快速、精确的分析：

大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供Z佳灵敏度

简单的元素区分：

通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 

性能优化，可分析的元素范围大：

X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法

的长期稳定性：

自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果

例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正

坚固耐用的设计

可在实验室或生产线上操作

坚固的工业设计

三种配置选择

镀层测厚仪 X-Strata920系列固定样品台

镀层测厚仪 X-Strata920系列加深样品台

镀层测厚仪 X-Strata920系列程控样品台