IM3536日置LCR测试仪

品Pai	其他品Pai	产地类别	进口
类型	高速LCR测量仪	应用领域	电子/电气/通讯/半导体,铁路/船舶/交通,航空航天,汽车及零部件,电池/电源

苏州计然之测提供IM3536日置LCR测试仪

宽广的测量频率
DC及4Hz~8MHz的大范围频宽通过5位分辨率进行设置。能够测量·评估共振频率的测量和运行条件相近的状态。

宽广的测量电压/电流
能够测量施加于普通开环的发生信号，并考虑到在定电压/定电流模式下的电压/电流。能设置大范围的测量信号电平，5mV~5V/10μA~50μA。(根据频率，测量模式测量信号电平的设置范围不同)

基本精度±0.05%
Z的基本精度是±0.05%。从零件检查到研究开发都是推荐使用精度。

测量线缆Z长4m保证精度
4端子结构能够降低测量线缆的影响，测量线缆Z长4m以内能够确保精度。自动仪器的配线也方便。IM3533设置有线缆长度补偿1m，Z长4m的精度保证。(根据线缆长度，保证精度的频率范围也不同)

可测量15种参数
能测量Z，Y，θ，Rs(ESR)，Rp，Rdc(直流电阻)，X，G，B，Ls，Lp，Cs，Cp,D(tanδ)，Q，并将所需要的数据读取到电脑。

测量时间Z快1ms
测量频率1kHz，测量速度FAST时，测量Z快可达1ms。自动产线使用时能够提高检查效率。

断线检查功能
4端子测量的断线检查功能是基于2端子测量是的High-Z调整功能，为避免测量时接触不到被测物测量用电极的情况发生。

不同测量条件的连续测量
不同测量项目通过不同测量条件(频率，电平，模式)能够连续测量

测量电容的C-D和ESR等，会遇到需要改变测量条件并连续测量的情况，与本公司以往机型(3522-50)相比，测量速度全面提高。除各项测量时间的缩短之外，改变量程和频率量程所需要的时间也大幅缩短了。

IM3536日置LCR测试仪基本参数

测量模式	LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）
测量参数	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程	100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）
显示范围	Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度	Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）
测量频率	4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平	[V模式, CV模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (10 mA) [V模式, CV模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (100 mA) [CC模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (1 V) [CC模式]的[低Z高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (1 V) [直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压	发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗	通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示	彩色TFT5.7英寸，触摸屏
功能	比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口	EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量	330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件	电源线×1,使用说明书×1,CD-R（通讯说明书，LCR应用光盘）×1

IM3536日置HIOKI LCR测试仪 探头·治具

※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。

SMD测试治具IM9100

直接连接型，底部有电极SMD用，DC～8MHz，可测量样品尺寸：0402～1005（JIS）

4端子开尔文夹9140-10

DC~200kH，50 Ω，1 m长

测试治具9261-10

线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm

测试治具9262

DC～8 MHz, 直接连接型

SMD测试治具9263

直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm

DC偏置电压单元 9268-10

直接连接型，40Hz~8MHz，外加电压DC±40V

DC偏置电流单元 9269-10

直接连接型，40Hz~2MHz，外加电流DC 2A(外加电压DC±40V)

4端子探头 9500-10

线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm

SMD测试治具9677

用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm

SMD测试治具9699

用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下

前端探针IM9901

用于更换L2001的前端的通用尺寸，L2001标配

前端探针IM9902

用于更换L2001的前端的小型尺寸

4端子探头L2000

DC~8MHz，1m长

镊形探头L2001

线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）

PC通讯

 

GP-IB连接线9151-02

2m长

RS-232C 连接线 9637

9pin-9pin，1.8m长