天瑞EDX 3200S PIUS-C X射线荧光光谱仪

天瑞EDX 3200S PIUS-C X射线荧光光谱仪可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金属元素Cd、Pb、Hg、As、Se 的快速无损检测.

天瑞EDX 3200S PIUS-C X射线荧光光谱仪探测器：超高出SDD探测器，每秒计数可达100KCPS 提容精度及测试速度

能量分辨率：可达到128ev (计数率1000cps左右时使用Fe55测得) 分析率数值越小，性能越高

检出限：0.036ppm (国家粮食总局的论证数据)

测试时间：3分钟粗筛,15分钟准确定量

环保性：物理处理，直接无损测试

散热性能良好

大屏幕显示器，实现中文菜单式对话，使得显示更明了，操作更简单。可显示程升曲线和基流电平（需配置采集板），在一屏画面内同时显示柱箱、进样器、检测器等的温度设定值和实际值，能提供更为丰富多彩的仪器信息。