●美国原装高灵敏电制冷Si(Pin)探测器
●电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术
●优异的峰背比、极高的痕量分析灵敏度
● 50KV,50瓦,自防护X-射线管
●多滤光片智能识别技术
●镀层和薄膜测量技术
●高性能,操作简便的XRF软 件
主要特点
●分析元素范围 Cl-U
●分析元素的浓度范围 ppm—
●EDX-600能量色散X射线荧光光谱仪整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● RoHS/WEEE检测时间100-120秒
●样品类型: 固体,液体,粉末,镀层及其他..
应用领域:
●应对RoHS & WEEE指令分 析
●各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量
●卤素指令Cl元素分析
●矿石、原材料成份分析等
●EDX-600能量色散X射线荧光光谱仪磁性磁性介质和半导体,各种合 金、贵金属成份分析