XDLM,XULM 菲希尔薄膜镀层测厚仪

菲希尔薄膜镀层测厚仪配备标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。采用了光学2 0X 影像放大功能，更能精确对位。有多种单位可供选择： mils 、 uin 、 mm 、 um ，优於美製仪器的设计与零件可靠度以及拥有价格与零件的优势。并且各地都有菲希尔的服务网点，薄膜镀层测厚仪正常使用保质期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987标准。 不需使用标准片做校正即可测量，配备微焦距XRAY管，四个准值器可选，可以同时间测量多至4层镀层、或进行多至5元素的合金分析，应用于小五金、大面积的样品、珠宝、贵金属等电镀镀层测量
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