XULM FISCHER 镀层膜厚分析仪

FISCHER 镀层膜厚分析仪产品特点：
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的镀层膜厚测量及有害物质测量的精度。

★ 无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的,不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。

★ 能谱匹配软件
FISCHER 镀层膜厚分析仪可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

★ 绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

★ 电镀液容器（选配件）

★ 各种标准物质（选配件）

检测：

☆ 单、双及三层镀层系统
☆ 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
☆ 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
☆ 能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量
☆ 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
☆ 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
☆ 报告生成，数据输出
☆ 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文
☆菜单中的某些选择项可授权使用
注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。
☆ 可随意创建测量应用
☆ 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
☆ 快速的频谱分析以决定合金成分
 

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