XDL,XDLM-XYM 菲希尔测厚仪(膜厚仪)

菲希尔测厚仪(膜厚仪)采用了全新设计的发生器和DMC测量法光学编码定位系统，高科技的FP法计算，能对样品数据进行快速、JZ的分析，基于当前先进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比。她完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果优化、体积小型化、功能Z大化的一次成功尝试。
●单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
●二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
●三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
●双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
●双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
●多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
●分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
●分析电镀溶液中的金属离子浓度。
金霖电子 岳先生 ： TEL： FAX：29371653