SP25M高精度扫描测头原理

SP25M高精度扫描测头原理

现在为您介绍的是SP25M扫描系统。您可能还有兴趣了解如何将SP25M集成到REVO扫描测头中…

直径仅为25 mm，配备一系列扫描及触发模块，SP25M是世界上*小型的多用途扫描测头系统。

扫描测头每秒能够采集几百个表面点，可以测量轮廓、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。雷尼绍提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。

扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头独具特色的轻巧无电源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。

SP25M由两个传感器组成，包含在一个外壳中。用户可从五个扫描模块（可安装长度从20 mm至400 mm的M3测针）中选择任意一个，与转接模块（与雷尼绍的TP20系列测头模块兼容）进行切换。这一功能可实现在单个测头系统中进行扫描和触发测量。

SP25M小巧的尺寸和自动吸附安装功能使之与PH10M PLUS / PH10MQ PLUS和PH6M测座兼容。它还可安装在自动吸附的多芯加长杆上。同时，这些组合具有的测触能力，便于检测各种零件特征。

SM25-1

与SH25-1配用

测针长度：20 mm至50 mm

SM25-2

与SH25-2配用

测针长度：50 mm至105 mm

SM25-3

与SH25-3配用

测针长度：120 mm至200 mm

SM25-4

与SH25-4配用

测针长度：220 mm至400 mm

SM25-5

与SH25-5配用，用于非直测针和星形测针组合

测针长度：20 mm至100 mm

TM25-20 TTP转接模块

与TP20触发式模块和加长杆配用