NL10激光二极管测试系统包括一个模数信号处理单元,电流驱动器和积分球。系统以一定电流驱动激光二极管并利用光电二极管和互阻抗放大器测试从积分球内采集到的光功率,然后驱动增加一定的电流,再次进行测试。通过多次重复该循环,可以获得待测物的L/I 以及V/I曲线。
激光二极管生产厂商可通过测试筛选合格的二极管,从而避免对缺陷二极管进行下一步的封装。 因为裸芯片无法附加温控设施,所以LIV系统可以在短至150ns的周期内使用电流脉冲进行测试,, 从而避免测试时由热效应引入的误差。使用典型的400ns上升时间,可以实现<1%过冲的1μs电流脉冲。
LIV系统具备一个BNC接口的外部触发接口,触发信号是5V的方波,时序与电流脉冲同步。测试时序可以设置大和小电流,并设置电流步进。
特点:
- 方便的接口卡以连接待测物
- 可测试LIV曲线
- 脉冲测试避免热效应引入误差
- 强大的软件分析功能
- 光谱分析功能
- 选通模式
- 3个可选择的阈值算法
- 热化周期测试
- 重复性测试
- 扫描平均
- 提供指令列表
- Labview VI
- 全部源代码用于应用开发(VB, .Net)
应用:
- 激光芯片
- 激光Bar条
- 激光晶圆(VCSEL)
- 封装激光二极管