QNix 1500涂层测厚仪尼克斯德国原装进口
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QNix 1500涂层测厚仪尼克斯德国原装进口
具体参数
产品型号 | QuaNix 1500 涂层测厚仪 |
基体 | Fe/NFe |
显示 | LCD数字显示 |
测量范围 | 0-5000μm |
测量精度 | 0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5% 1000-2000μm:≤±2%,2000-5000μm≤±3% |
显示精度 | 0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm |
工作温度 | -10 - +60℃ |
温度补偿 | 0-50℃ |
数据传输 | RS232打印、电脑 |
统计功能 | 平均值、Z大值、Z小值、标准偏差 |
Z小基体 | 10mm×10mm |
Z小曲率 | 凸半径:5mm,凹半径:25mm |
Z薄基体 | Fe:0.2mm,NFe:0.05mm |
电源 | 9V碱性电池1节 |
重量 | 130g |
尺寸 | 166mm×64mm×34mm |
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在
有关和国际标准中称为覆层(coating)。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用Z广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。
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