HK-JTM-H 金相测量显微镜

仪器特点

国际*品Pai金相光学观察系统，观察1寸-18.5寸液晶面板等产品,10X-1000X光学放大倍率，可实现明暗视野的观察以及导电粒子微分干涉观察。系统使用人体工学设计理念设计，符合友好化测量、采用主动式减震系统，花岗石本体结构，能刚好的克服环境震动问题。人性化计算机测量模式，有效提高观察定位效率。专为使用者设计机型，操作更便利、测量更迅速。

应用领域

该仪器适用于LED、硅晶片、精密零件、导电粒子彩色滤光片、手机屏幕、FPD模组半导体晶片、FPC-PCB、IC封装光盘CD、图像传感器、CCD、CMOS、PDA光源、薄膜等金相观察及精确测量行业。

规格参数

1.仪器规格系列：HK-JTM-H

2.测量范围：50mm-500mm

3.解析读数：0.1 um

4.示值误差：3um+L/200 L:单位mm

5.符合人机工程学设计准则方便操作测量

6.工作台一键式气动单手快速移动操作

7. 可实现Z轴自动对焦

8.具有偏光和DIC检测功能

9.采用被动式减震装置，提高整机精度稳定性

10.自主开发QMS3D-M软件，高清晰进口1/2"彩色摄像机

11.可通过激光指示器寻找被测工件的具体位置，可适应复杂工件的测量

12.可实现高度辅助测量

13. Z轴光栅尺分辨力为0.1μm

14.同轴光/底光测量

15.可搭配白光纳米检测模块测量纳米级厚度