C测试仪 3504-60 日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

给我一个机会，还你一个惊喜。
给我一份信任，还你一份收获。
（全新）（假一罚十）（原装进口）（质量稳定）
（原厂标准）（海量库存）（当天付款）（及时发货）
（诚信经营）（放心购买）
专注 专业 专心 诚信 创新 合作 共赢
因为有您，我们才能走得更远！！！！！！

广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置HIOKIC测试仪 3504-60，谢    ：

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

▶ LCR的典型运算公式

阻抗Z由实数部分（Rs）和虚数（X）部分组成，复平面上展开的话则可以求出各参数值。以下公式是表示阻抗的关系的运算公式。

▶ 等效电路模式

LCR测试仪测量被测物中流过的电流以及被测物两端的电压后再求出Z和θ。而且，L、C、R等测量参数根据Z和θ计算得出。计算测量参数值的运算公式在串联等效电路模式或并联等效电路模式中是不同的。LCR测试仪端无法判断被测物是哪一种电路模式，因此为了减小误差需要选择正确的等效电路模式。计算时假设串联等效电路模式下Cs（或Lx）和电阻成分Rs为串联连接，假设并联等效电路模式下Cp（或Lp）和电阻成分Rp为并联连接。
一般来说，测量大容量的电容或低阻抗的低阻元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，而测量低容量的电容或高阻抗的高阻元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。
各等效电路模式的测量值通过计算求出，因此可以显示双方的数值，但是请注意根据被测物不同所对应的等效电路也会有差异。

日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

▶ 开路补偿、短路补偿

测量被测物时所使用的的测试治具中存在残留成分，可以使用如图所示的等效电路来表示。因此，测量值Zm如下表示为包含残留成分的公式。为了求得真值Zx，需要求出开路残留成分和短路残留成分对测量值进行补偿。此类补偿分别被称为开路补偿、短路补偿，LCR测试仪就具备这类功能。
Zm：
测量值
Zs：
短路残留阻抗（Rs：残留电阻、Ls：残留电感）
Yo：
开路残留导纳（Go：残留电导、Co：杂散电容）
Zx：
真值（被测物的阻抗）

▶ 测量信号电平

从LCR测试仪输出的测量信号通过输出阻抗R和被测物Zx进行分压。并不是将所设置的测量信号电平V直接外加在被测物Zx上。
LCR测试仪有3种测量信号模式。
开路电压（V）模式：
设置图中的测量信号电平V。这是测量端子开路时的电压。

 

日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

恒压（CV）模式：

设置图中的Vx（被测物Zx的端口电压）。用于测量高介电常数的MLCC等具有电压依赖性的被测物。

恒流（CC）模式：
设置图中的I（被测物Zx中流过的电流）。用于测量带芯的电感等具有电流依赖性的被测物。

▶ 多层陶瓷电容器（MLCC）的电容测量

日本日置HIOKIC测试仪 3504-60

基本参数

HIOKI的企业目标形象

以挑战ONLY ONE，成为高附加值的企业为目标
 为了企业的不断发展，在Z大限度的发挥每个个体的自我能力的同时，必须是一个的企业市民。
 我们将"尊重人性"和"贡献社会"的企业理念作为全体员工的基本价值观，将其具体化则是企业的使命，即社会的责任。因此，我们为了能努力成为所有利益相关者能信赖的人，以及能提供高品质的产品和Z优良的服务，而不断挑战ONLY ONE，旨在成为高附加值企业。