3532-50 日本日置3532-50电容测试仪、日本日置3532-50LCR测试仪_详细资料

产品信息 加工定制否类型数字LCR测试仪 品Pai 日本日置型号 3532-50 日本日置(HIOKI)3532-50LCR测试仪3532-50LCR测试仪：1测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来日本日置(HIOKI)3532-50LCR测试仪基本参数： 测量参数 │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q 测量方法 测量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA(1MHz～5MHz)，或恒压10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz) 检测：电压，AC 测量频率 42Hz～5MHz 测量量程 │Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定) θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF L:16.000nH～750.00kH,D:0.00001～9.99999 Q:0.01～999.99，Y,G,B：5.0000nS～99.999S 基本精度 │Z│:±0.08%rdg.，θ:±0.05° 测量时间│Z│的典型值 快速：5ms～慢速2：140ms 显示 Z大显示值99999，LCD背光功能 比较器功能 设定：上、下限值，百分比或值输出：3档(高，中，低)，开路集电极，绝缘 外部打印 9442(与9443/9446/9593-01同时使用) 电源供应 100～240VAC50/60Hz 体积及重量 352宽x124高x323厚mm，6.5kg 附件 电源线(1)，保险丝(1)

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加工定制	否	类型	数字LCR测试仪
品Pai	日本日置	型号	3532-50

测量参数	│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法	测量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA(1MHz～5MHz)，或恒压10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz) 检测：电压，AC
测量频率	42Hz～5MHz
测量量程	│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定) θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF L:16.000nH～750.00kH,D:0.00001～9.99999 Q:0.01～999.99，Y,G,B：5.0000nS～99.999S
基本精度	│Z│:±0.08%rdg.，θ:±0.05°
测量时间│Z│的典型值	快速：5ms～慢速2：140ms
显示	Z大显示值99999，LCD背光功能
比较器功能	设定：上、下限值，百分比或值输出：3档(高，中，低)，开路集电极，绝缘
外部打印	9442(与9443/9446/9593-01同时使用)
电源供应	100～240VAC50/60Hz
体积及重量	352宽x124高x323厚mm，6.5kg
附件	电源线(1)，保险丝(1)