C测试仪3504-50 日本日置C测试仪3504-50

日本日置C测试仪3504-50

给我一个机会，还你一个惊喜。
给我一份信任，还你一份收获。
（全新）（假一罚十）（原装进口）（质量稳定）
（原厂标准）（海量库存）（当天付款）（及时发货）
（诚信经营）（放心购买）
专注 专业 专心 诚信 创新 合作 共赢
因为有您，我们才能走得更远！！！！！！

广州日横电子科技有限公司长期现货供应日本日置C测试仪3504-50，谢    ：

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

日本日置C测试仪3504-50

▶ 等效电路模式

LCR测试仪测量被测物中流过的电流以及被测物两端的电压后再求出Z和θ。而且，L、C、R等测量参数根据Z和θ计算得出。计算测量参数值的运算公式在串联等效电路模式或并联等效电路模式中是不同的。LCR测试仪端无法判断被测物是哪一种电路模式，因此为了减小误差需要选择正确的等效电路模式。计算时假设串联等效电路模式下Cs（或Lx）和电阻成分Rs为串联连接，假设并联等效电路模式下Cp（或Lp）和电阻成分Rp为并联连接。
一般来说，测量大容量的电容或低阻抗的低阻元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，而测量低容量的电容或高阻抗的高阻元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。
各等效电路模式的测量值通过计算求出，因此可以显示双方的数值，但是请注意根据被测物不同所对应的等效电路也会有差异。

日本日置C测试仪3504-50

▶ 开路补偿、短路补偿

测量被测物时所使用的的测试治具中存在残留成分，可以使用如图所示的等效电路来表示。因此，测量值Zm如下表示为包含残留成分的公式。为了求得真值Zx，需要求出开路残留成分和短路残留成分对测量值进行补偿。此类补偿分别被称为开路补偿、短路补偿，LCR测试仪就具备这类功能。
Zm：
测量值
Zs：
短路残留阻抗（Rs：残留电阻、Ls：残留电感）
Yo：
开路残留导纳（Go：残留电导、Co：杂散电容）
Zx：
真值（被测物的阻抗）

▶ 测量信号电平

从LCR测试仪输出的测量信号通过输出阻抗R和被测物Zx进行分压。并不是将所设置的测量信号电平V直接外加在被测物Zx上。
LCR测试仪有3种测量信号模式。
开路电压（V）模式：
设置图中的测量信号电平V。这是测量端子开路时的电压。

恒压（CV）模式：
设置图中的Vx（被测物Zx的端口电压）。用于测量高介电常数的MLCC等具有电压依赖性的被测物。

恒流（CC）模式：
设置图中的I（被测物Zx中流过的电流）。用于测量带芯的电感等具有电流依赖性的被测物。

▶ 多层陶瓷电容器（MLCC）的电容测量

多层陶瓷电容器（MLCC）分为根据测量电压而电容变化的高介电常数型以及不会变化的温度补偿型。规定电容时的测量条件分别按照温度补偿性、高介电常数型的JIS标准来规定。

日本日置C测试仪3504-50

测量条件的设置例

※其他为初始设置。
※这是测量范例。由于Z适合的条件根据被测物不同会有差异，因此请使用者自行决定。

JIS C5101-21用于表面贴装的定瓷电容器种类1 温度补偿型（CH、C0G等）（IEC30384-21）

JIS C5101-22用于表面贴装的定瓷电容器种类2 高介电常数型（B、X5R等）（IEC30384-22）

※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是通过输出电阻和测试样品对开路端子电压进行分压的电压。
※2测试电压（=外加在测试样品上的电压）可以通过开路端子电压、输出电阻、测试样品的阻抗进行计算。
※3 测试样品的阻抗不确定时或测量偏差较大的多个测试样品时使用CV模式更方便。

关于高介电常数型的电容
温度特性表示为B、X5R、X7R等的电容中使用了介电常数较高的材料。
高介电常数型的电阻不仅能够实现小型大容量，而且还具有容量根据测试电压和温度变化较大的特点。

日本日置C测试仪3504-50

测量仪器的介绍

适用于生产线

适用于研发、验货等

参数（Cs和Cp）的确定方法
各频率下的阻抗的大致标准（D较小时）

电容的等效电路

大容量的电容：因为C的阻抗较低，所以可以忽略Rp。设为串联等效电路。
小容量的电容：因为C的阻抗较高，所以可以忽略Rs。设为并联等效电路。
 

日本日置C测试仪3504-50

一般来说，测量如大容量电容这类低阻抗元件（约100Ω以下）时，使用串联等效电路模式，测量如小容量电容这类高阻抗元件（约10kΩ以上）时，使用并联等效电路模式。约100Ω～10kΩ的阻抗等等效电路模式不确定时，请和元器件的制造商进行确认。
实际的电容如图所示串联的Rs、并联的Rp连接到理想电容C进行工作。通常Rp会非常大（MΩ以上），Rs会非常小（几Ω以下）。理想电容的电抗可以通过电容和频率，按照Xc＝1/j 2πf C[Ω]来计算。Xc较小时，Rp和C并联的阻抗≒Xc。另一方面，Xc较小的话，则不能忽略Rs，因此整体上可以视作Xc和Rs的串联等效电路。Xc较大时则相反，不能忽略Rp，但可以忽略Rs，这样就变成了并联等效电路。

开路电压（V）模式和恒压（CV）模式的区别
开路电压是指测试样品没有进行连接时Hc端子产生的电压。将开路电压用输出电阻和测试样品分压后的电压外加在测试样品上。
恒压（CV）模式下设置测试样品两端的电压。使用IM35xx读取电压的监视值，软件上反馈后作为CV。使用3504-xx的话在硬件（模拟电路）上设置CV，因此可以高速进行恒压测量。3506-10虽然仅有开路电压（V）模式，但是因为输出电阻较小（1kHz的2.2uF量程以上为1Ω，除此以外的条件下为20Ω），所以相比其他机型，具备开路端子电压≒测试电压的测试样品的阻抗低的特点。

▶ 电解电容器的电容测量

规定电解电容器的电容时的测量条件是按照JIS标准来定的。电容器厂家的公称值是符合JIS标准的测量值。但是，电解电容器的静电容量值根据测量频率的不同有较大差异，因此也用符合实际使用回路条件的频率确认电容值。
在和电容测量相同条件下测量基于电解电容器的内部电极部分的电阻和电解质电阻等的等效串联电阻（ESR）或损耗角正切ð（tanð）。

测量条件的设置范例：

※其他为初始设置。
※这是测量范例。Z适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。

JIS C5101-4铝固体（Mn02）和非固体电解电容器 （IEC 60384-4）

※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。

低阻抗高精度模式：
低阻抗高精度模式下输出电阻下降、测试电流增加，而重复测量精度提高。若测量超过100μF这类大电容（低阻抗）的电容，就能够更加稳定的进行测量。下图是使用IM3570，分别在低阻抗高精度模式ON/OFF下比较重复精度的结果。（100kHz、1Ω量程、1V）
※低阻抗高精度模式有效的条件根据机型而异。请参照各机型的使用说明书。

重复测量约100mΩ的电阻

日本日置C测试仪3504-50

测试仪器的介绍：

针对生产线

针对研发、验货

关于等效串联电阻（ESR）和损耗系数D（tanδ）
电解电容器的普通等效电路如下图所示。
这里低频（50Hz～1kHz）的话则基于等效串联电感L的电抗（XL）非常之小，可以看做0，这时的各元件的电阻成分、电抗成分在复平面中变为下图所示的矢量关系。
电容器的理想状态是R=0、损耗系数D=0，但是实际上电解电容器的话，存在电极箔的电阻、电解质的电阻、引线的电阻以及各部分的连接电阻等各种电阻成分，因此等效串联电阻ESR或损耗系数D（tanδ）是评价电解电容器好坏的指标。
使用IM3533或IM3536可以同时测量并显示4种参数，因此如显示范例可作为电解电容器的评价标准，同时确认电抗X、静电容量C、等效串联电阻Rs、损耗系数D。

重复测量约100mΩ的电阻

矢量图

IM3536的显示范例

日本日置C测试仪3504-50

直流偏压功能
电解电容器分为普通有极性型和两极性型。有极性型根据需要加上直流偏压，而不在电容器上加反向电压。
由于IM3533或IM3536有内部直流偏压功能，因此无需准备外部直流电源即可直接外加直流偏压。

Cs和Cp的确定方法
一般来说，测量大容量的电容器这种低阻抗元件（约100Ω以下）时使用串联等效电路模式，而测量小容量的电容器这种高阻抗元件（约10kΩ以上）时使用并联等效电路模式。在无法确定约100Ω～10kΩ的阻抗等的等效电路模式时，请和元件厂家进行确认。

▶ 钽电容的电容测量

钽电容是阳极使用金属钽的一种电解电容器。和其他电容器相比体积小但电容大，和陶瓷电容器这类大容量产品相比，具备电压、温度特性好的特点。测量条件由JIS标准而定，测量静电容量C、等效串联电阻Rs（ESR）、损耗角正切ð（tanδ）和阻抗Z。

测量条件的设置范例

※其他为初始设置。
※这是测量范例。Z适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。

JIS C5101-3用于表面贴装的固定钽固体（MnO 2）电解电容器
（IEC 60384-3）

JIS C5101-15固定钽非固体或固体电解电容器
（IEC 60384-15）

JIS C5101-24用于表面贴装的固定钽固体（导电性高分子）电解电容器
（IEC 60384-24）

※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。
※3 双极性电容器不外加直流偏压。
※4 仅在测试电压0.5Vp以上时外加。

Cs和Cp的确定方法
一般来说，测量大容量的电容器这种低阻抗元件（约100Ω以下）时使用串联等效电路模式，而测量小容量的电容器这种高阻抗元件（约10kΩ以上）时使用并联等效电路模式。在无法确定约100Ω～10kΩ的阻抗等的等效电路模式时，请和元件厂家进行确认。

日本日置C测试仪3504-50

测试仪器的介绍：

针对生产线

针对研发、验货

4端子对法：
在测试样品Zx的附近若连接彼此的屏蔽层，则测试电流会通过屏蔽层返回来。这个返回屏蔽层的电流所产生的磁通量和测试电流I所产生的磁通量相抵消，因此特别是在低阻抗的测量中能够降低测量误差。（IM35xx）

连续测量模式：
IM35xx系列的连续测量功能在不同设置条件（频率、电平）下连续测量不同的设置项目。
如下例所示，连续测量Cs-D测量（120Hz）和ESR测量（100kHz）

▶ 导电性高分子电容器的电容测量

导电性高分子电容器和铝电解电容器相比，具备ESR（等效串联电阻）较低、温度变化时较稳定的特性。而且，相对直流偏压的静电容量的稳定性也非常出众。测量条件根据JIS标准C5101-25-1而定，测量等效串联电阻（ESR）和损耗角正切ð（tanð）。

测量条件的设置范例

※其他为初始设置。
※这是测量范例。Z适合的条件根据被测物而异，请使用者自行决定。

JIS C5101-25-1用于表面贴装的固定铝固体（导电性高分子）电解电容器
（IEC 60384-25-1）

※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）是使用输出电阻和测试样品将开路端子电压分压后的电压。
※1 测试电压（=外加在测试样品上的电压）能够通过开路端子电压、输出电阻和测试样品的阻抗进行计算。
※2 可省略外加直流偏压。