日本日置C测试仪 3506-10
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对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。
日本日置C测试仪 3506-10基本参数
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
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测量范围 | C:0.001fF~15.0000μF D: 0.00001 ~ 1.99999 Q:0.0 ~ 19999.9 |
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基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
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测量频率 | 1kHz, 1MHz |
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测量信号电平 | 500mV, 1V rms |
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输出电阻 | 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
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显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
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测量时间 | 1.5ms:1MHz, 2.0 ms:1kHz |
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功能 | BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
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电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, Z大40VA |
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体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
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附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1 |
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▶ LCR的基本测量原理
LCR测试仪是用来测量被称为阻抗的这种物理量的测量仪器。阻抗的符号为"Z",表示的是交流电流流过的困难程度。可以通过流过被测物的电流"I"和两端电压"V"求出。
阻抗在作为复平面上的矢量来表示,因此使用LCR测试仪不光测量电流有效值和电压有效值之比,还测量电流波形和电压波形的相位差。
▶ LCR测试仪的测量回路:自动平衡电桥法
作为LCR测试仪的测量回路,较多采用的回路方式之一就是"自动平衡电桥法"。有Hc、Hp、Lp、Lc的4端子,并将所有端子连接被测物。回路概略和各端子的功能请参考如下内容。
Hc:
将控制频率、振幅的测量信号外加在被测物的发生端子。
可控制范围为频率几mHz~几MHz,振幅5mV~5V。
Hp:
检测被测物的Hi端电位。检测回路的输入阻抗非常高,无电压下降,能准确进行电位检测。
Lp:
检测被测物的Lo端电位。
Lc:
通过检测电阻将流过被测物的电流进行电压转换并检测。让Lc端子的电位保持为OV。
日本日置C测试仪 3506-10
▶ LCR测试仪的测量回路:二端子法/五端子法/四端子对法
采用了自动平衡电桥法的LCR测试仪,其4端子全都是BNC连接器。为了不让外部干扰混入测量信号或检测信号中,使用了覆盖屏蔽的同轴构造。检测回路的构造一般分为五端子法和四端子对法。
可以解决构造Z简单的二端子法的不足。
二端子法:
和被测物是以二端子来接触的构造。测量值是包含了配线电阻和接触电阻的结果,当被测物为低阻抗时影响会更大。而且,线间存在杂散电容,因此高频下测量或高阻抗测量时,测量信号不光会流过被测物也会流过杂散电容,从而产生误差。
五端子法:
由于信号电流用电缆和电压检测用电缆是独立分开的,因此可以降低配线电阻或接触电阻的影响。而且,通过使用带屏蔽层的电缆,让屏蔽层之间的电位相同来降低杂散电容的影响。是一种能够降低低阻抗还是高阻抗测量中产生误差的方式。
四端子对法:
降低由测试电流引起的磁场影响,是一种能够降低低阻抗到高阻抗测量中产生误差的方式。通过利用电缆的绝缘层并将正向电流和反向电流相叠加,可以消除所产生的磁场。