菲希尔代理Couloscope CMS2 库仑法测厚仪

菲希尔代理Couloscope CMS2 库仑法测厚仪

作为测量镀层厚度Z简单的方法之一，库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测 量时，它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。 
很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内， 很多 材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。

标准：DIN EN ISO 2177 ；
大屏幕点阵液晶显示屏，可显示文字与图形：
可设置和储存：50个应用程式、600个数据组；3 000个数据
统计：平均值、Z大值、Z小值、标准偏差、测量次数、Cp、Cpk 和直方图
使用多层菜单和软键，使操作更方便
接口可通过电缆和传输软件将数据传到
模拟输出： 0 ～
输入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作温度： 10 ℃ ～ 40 ℃
仪器重量：
电源： AC 220 V ，50-60 Hz；Z大功耗 ≤
尺寸：
库仑镀层厚度测试仪
分步测量： 镀层厚度和电位差
测量：
Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属
基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等
双层镍镀层库伦测厚仪基本配置：
仪器：
测量台： V24、V26、V18 等
电解液： F1 ～
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