测厚仪膜厚片,测厚仪校正片,测厚仪标准片

韩国先锋Micro PioneerXRF-2000 X光电镀层测厚仪标准片

X-RAY膜厚仪校正片

适合各种X光镀层测厚仪

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 
    

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