镀层测厚仪膜厚片，X-RAY膜厚仪标准片，测厚仪校准片

    美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品PaiFischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。

 1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.测量厚度范围：0.01~300μm.

1.薄膜片，单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（镉）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）；钯(Pd)等，其它镀层可定制.

2.镀层标准片：双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.测量厚度范围：0.01~300μm.