MikroTest G 6,F 6 | (铁基体涂镀层 0-100, 0-1000um,精度:5%读值) |
MikroTest S3,S5,S10 | (铁基体涂镀层 0.2-3, 0.5-5, 2.5-10mm,精度:5%读值) |
MikroTest S20 | (铁基体涂镀层 7.5-20mm,精度:5%读值) |
MikroTest NiFe50 | (铁基体上电镀镍 0-50um,精度:2um+8%读值) |
MikroTest Ni50 | (非铁基体上电镀镍 0-50um,精度:1um+5%读值) |
MikroTest Ni100 | (非铁基体上电镀镍 0-100um,精度:1um+5%读值) |
MiniPen | 笔式测厚仪 (铁基体涂镀层 50-500um) |
PenTest | 笔式测厚仪 (铁基体涂镀层 25-700um) |
WetTest | 湿膜测厚仪 (25-800um) |
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新型MINITEST微电脑精密涂镀层测厚仪 |
MiniTest 1100 主机 | (不含统计功能,含RS-232口,塑料箱) |
MiniTest 2100 主机 | (二次统计型,含RS-232口,塑料箱) |
Minitest 3100 主机 | (二次统计型,含RS-232口,塑料箱) |
MiniTest 4100 主机 | (二次统计型,含RS-232口,塑料箱) |
MiniPrint4100专用打印机 | 适合EPK除700系列所有产品 |
4100-2可充电电池 | 需两包电池 |
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供MiniTest 1100/2100/3100/4100 选配测头 |
测头 F05 | (铁基体涂镀层 Z小测量面积直经3mm 0-500um,低端分辨率0.1um) |
测头 F3 | (铁基体涂镀层 0-3000um,低端分辨率0.2um) |
测头 F1.6 | (铁基体涂镀层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F1.6P | (铁基体上未固化粉末涂层 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F1.6/90 | (铁基体涂镀层 测管内壁 0-1600um,低端分辨率0.1um) |
测头 F1.6/90 | 加长6mm线 |
测头 F10 | (铁基体涂镀层 0-10mm,分辨率5um |
测头 F10 | 加长2mm线 |
测头 F10 | 加长6mm线 |
F20 | 铁基体涂镀层 ,0-20mm,分辨率10um) |
测头 F50 | (铁基体涂镀层 0-50mm,分辨率,10um) |
测头 FN1.6 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 FN1.6P | (铁及铜铝基体上未固化粉末涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N02 | (铜铝基体涂层 0-200um,分辨率,0.1um) |
测头 N08 Cr | (铜基体上镀铬层 0-800um,分辨率0.1um) |
测头 N02 Tu | (铝箔或铝薄壁管上薄涂层 0-200um,分辨率0.1um) |
用于测头N02 Tu的专用支架 | |
测头 N1.6 | (铜铝基体涂层 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N1.6/90 | (铜铝基体涂层 测管内壁 0-1600um,分辨率0.1um) |
测头 N10/2,N20 | (铜铝基体涂镀层 0-10mm,分辨率10um,0-20mm,分辨率10um) |
测头 N100 | (铁及铜铝基体涂镀层 0-100mm,分辨率100um) |
测头 CN 02 | (敷铜板等 10-200um,分辨率0.2um) |
侧头 F2 (250°C) | 铁基体上涂层,250度高温探头,量程0-2mm |
侧头 F2 (350°C) | 铁基体上涂层,350度高温探头,量程0-2mm |
F 2/90 | 铁基体上涂层,90度直角探头,量程0-2mm |
N 2/90 | 非铁基体上涂层,90度直角探头,量程0-2mm |
FN 2/90 | 铁及铜铝基体上涂层,90度直角探头,量程0-2mm |
精密探头支架 | |
RS232 接口电缆 for 2100/4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |
MSOFT41 数据分析软件 for 4100 | 配MiniTest 1100/2100/3100/4100 (用于连接个人电脑) |