AODJ-EDX6000 X荧光光谱仪 硅针半导体探测器 X光管探测器

X荧光光谱仪  硅针半导体探测器 X光管探测器

 型号：AODJ-EDX6000

一、技术指标:

分 析 范 围: 1PPM-99.99%

同 时 分 析: 几十种元素同时分析

测量镀层：镀层厚度测量精确至0.005微米

测 量 对 象: 固体、粉未、液体

测 量 时 间: 60-300 秒

测 量 精 度 : 0.05%

分 析 元 素: Na-U

工 作 温 度: 15-26℃

相 对 湿 度: ≤70%

重 量 : 100KG

功 耗: 200瓦

二、仪器配置：

多样自动进样系统

计算机、喷墨打印机

真空泵（可选）

压片机（可选）

硅针半导体探测器

放大电路

高低压电源

X光管