硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪 单晶少子寿命测试仪
型号AODJ-LT-3
特点:
该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;
测试单晶电阻率范围:>0.3Ω.cm;
可测单晶少子寿命范围:1μS-10000μS;
配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;
余辉<1μS;闪光频率为:20-30次/秒;
前置放大器:放大倍数约25;
测量方式:采用对标准曲线读数方式;
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