Probe FAI 3.3-150 菲希尔测厚仪Probe FAI 3.3-150筷子探头

菲希尔测厚仪Probe  FAI 3.3-150筷子探头

任何一个电磁测量系统的核心都会是探头，其信号质量Z终决定了计量方案的整体测量质量。 进过多年的研发和创新，FISCHER现在拥有超过100种探头，可以在各种测量任务中实现具有Z高。

菲希尔测厚仪Probe  FAI 3.3-150筷子探头适合测量孔洞、管子、细槽（直径需要大于等于9毫米）内的涂镀层厚度测量。

一次测量的质量，主要由几个关键因素决定。包括：选择适当的探头和探头本身的质量等。Helmut FischerGmbH为您提供种类繁多而又品质的高精度探头，所有探头都是按照Z高的品质要求自行开发和生产。

镀层/底材的种类是选择探头Z重要的依据。另外，镀层的大致厚度、底材的材料、测量点的面积以及样品的形状和表面情况都是选择探头时需要考虑的因素。曲率补偿探头（涡流法）适用于不同曲面的样品；双触点探头能够在粗糙的表面上得到的结果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型仪器都可以通过连接不同的探头来满足您不同的测量需求。

下面的图表显示了选择探头的标准流程。我们的探头库中拥有超过100种适合不同应用的探头，除此之
外，Helmut Fischer GmbH还能为您的应用特别定制探头。

其他探头介绍

常用磁性非磁性双功能探头：FD10，订货号：604-143，测量范围：磁性：0-1300 μm，涡流，0-800 μm

常用涡流探头：FTA3.3H，订货号：604-142，测量范围：0 - 1200 μm

常用磁性探头：FGAB1.3，订货号：604-141，测量范围：0 - 2000 μm