UDM-550V,,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所_详细资料

产品信息 深圳市京都玉崎电子有限公司 深圳市龙华新区东环一路华联大厦201室 ：林情 ： UDM-550V,,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所 UDM-550V,,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所 UDM-550V膜厚计 ●铁、铜、铝、铸铁其他金属，硬质塑料、玻璃、瓷器等的厚度测量。各种探针。 ●操作简单，明亮的液晶显示（EL照明） 用途： ●测量时适合音速为存储拾音器。 ●タンク、ボイラーの保守、检查。 ●金属制品检查、品质管理 参数： 测量范围 0.7～250.0mm 测量精度 ±0.1mm 音速调整范围 500～9999m／sec 探针 T528形5 Z 10 NDT（标准用） （选项，小径用，铸铁用，高温用、薄板用等） 电源 单3碱干电池（1.5 V）×1 使用温度 -10~50℃（不得结露） 尺寸重量 本体66（W）×140（H）×28（D）毫米，290克

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测量范围	0.7～250.0mm
测量精度	±0.1mm
音速调整范围	500～9999m／sec
探针	T528形5 Z 10 NDT（标准用）（选项，小径用，铸铁用，高温用、薄板用等）
电源	单3碱干电池（1.5 V）×1
使用温度	-10~50℃（不得结露）
尺寸重量	本体66（W）×140（H）×28（D）毫米，290克