UDM-1200,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所_详细资料

产品信息 深圳市京都玉崎电子有限公司 深圳市龙华新区东环一路华联大厦201室 ：林情 ： UDM-1200,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所 UDM-1200,超音波膜厚计,TEITSU帝通电子研究所 特征： ●各种平顶材料上厚度测量OK 变质硅系，硅系，聚氨酯系等成分形状的东西，2成分系也去泡了东西的话全部平顶材料上厚度测量。 ●接缝底的变形的影响 备份材料澎湃接缝深度变化的场合任何测量没有影响。另外，倾斜状接头深度变化的场合，底部的倾斜15度的程度的话可以测量。 ●口袋的类型，携带方便 本体重量仅有290克轻了现场作业的性富，到哪里都可以轻松的携带。 ●备份材料种类的影响 没有备份材料债券，断路器一、平板状备份材，圆棒状备份材料等全部的条件测量可能。 ●测量条件的设定简单 麦克风口处理器内置操作触摸按键，只需按下测量条件的设定简单地能进行。 ●选择功能 任何价值，其设定值作为基准的差距可以显示（DIF功能)。 规格以及性能： 表示方式 液晶数字方式 测量方法 脉冲反射方式（一探触子法） 使用周波数 5MHz 表示位数 3位数 Z小单位 0.1毫米 测量范围 2.5～40毫米（平顶材料） 误差范围 ±0.5毫米 音速调整范围 500～9999 m / sec 表示次数 2次/ sec 照明灯具 EL背照灯方式 自动切割 测量中断后，约5分钟 耦合标志 表示部马克表示 口―电池表示 表示部马克表示（BATT） 选择功能 任意设定其设定值作为基准的差距的表示（DIF功能） 电源 DC1.5 V（单3碱干电池）一书 工作时间：约30小时以上 EL照明点灯时：约20时间以上 使用温度范围 -10℃～＋50℃ 外形尺寸 W66×H140×D28mm 重量 约290克探针约50克

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表示方式	液晶数字方式
测量方法	脉冲反射方式（一探触子法）
使用周波数	5MHz
表示位数	3位数
Z小单位	0.1毫米
测量范围	2.5～40毫米（平顶材料）
误差范围	±0.5毫米
音速调整范围	500～9999 m / sec
表示次数	2次/ sec
照明灯具	EL背照灯方式
自动切割	测量中断后，约5分钟
耦合标志	表示部马克表示
口―电池表示	表示部马克表示（BATT）
选择功能	任意设定其设定值作为基准的差距的表示（DIF功能）
电源	DC1.5 V（单3碱干电池）一书工作时间：约30小时以上 EL照明点灯时：约20时间以上
使用温度范围	-10℃～＋50℃
外形尺寸	W66×H140×D28mm
重量	约290克探针约50克